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太阳能模拟器(SCD1)IV测试仪  
太阳能模拟器(SCD1)IV测试仪
这种测试仪适用于已经有光源的用户,仅采集IV数据。
IV5 IV 测试仪/太阳模拟器  
IV5 IV 测试仪/太阳模拟器
太阳能电池IV测试模拟器,配备ABA级光源。适用于小面积太阳电池测试。
IV10 IV测试仪/太阳能模拟器  
IV10 IV测试仪/太阳能模拟器
IV 模拟器,测量10*10cm大小太阳能电池。光源ABA级别。
IV16 太阳模拟器/IV测试仪  
IV16 太阳模拟器/IV测试仪
可以测量160*160mm大小以下,比如156的电池片的IV
便携式IV测试仪 太阳模拟器  
便携式IV测试仪 太阳模拟器
便携式IV测试仪,太阳模拟器,可以测组件。
WCT-120TS变温少子寿命测试仪  
WCT-120TS变温少子寿命测试仪
分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)  
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)
CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
MicronViewer 7290A近红外相机  
MicronViewer 7290A近红外相机
MicronViewer 7290A近红外相机:MicronViewer 7290A近红外相机 特性 • 可连接多种C-mount物镜 • 可选择使用25mm高通, 低通, 带通或中灰滤波片 • 3-position手动或自动调整增益 • 标准视频输出: RS170 (60Hz) • 同步锁相(Gen-lock)输入 • 高性能,氧硫化铅摄像机, 9.5mm×12.7mm成像探测器
光伏用正置金相显微镜  
光伏用正置金相显微镜
光伏用正置金相显微镜;工业金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其超强性能,可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测,可观察较厚的标本。  稳定、高品质的光学系统使成像更清晰,衬度更好。符合人机工程学要求的设计,使您在工作中感到舒适和放松。
光伏检测显微镜  
光伏检测显微镜
光伏检测显微镜:随着多晶硅,硅片,太阳能电池片工艺的不断发展与提高,光伏产业对硅片及电池片质量的检测要求越来越高。本仪器专门用于对硅片以及太阳能电池片的显微质量检测,检测结果快速直观准确。 ■ 对于硅片的错位、层错、划痕、崩边等缺陷进行检测; ■ 对硅片的杂质、残留物成分进行分析; ■ 太阳能电池片的制绒质量检测、柵线尺寸精确测量、裂片、污染等缺陷的检测。
超声扫描显微镜  
超声扫描显微镜
超声扫描显微镜:高端的自动浸泡和非浸泡式扫描方法的SAM系列扫描显微镜
晶圆/材料厚度弯曲度量测系统  
晶圆/材料厚度弯曲度量测系统
晶圓/材料厚度彎曲度量測系統 晶圆/材料厚度弯曲度量测系统
R9000硅晶电池片反射率仪  
R9000硅晶电池片反射率仪
R9000硅晶电池片反射率仪太阳能领域全自动两维扫描反射率仪 通过反射率测量进行绒化控制 通过颜色和厚度测量进行减反射膜控制
红外光谱仪 Nicolet IS50  
红外光谱仪 Nicolet IS50
Thermo Scientific Nicolet iS50配有专业化的附件和集成的分析软件,能够提供一个真正一体化的材料分析平台,帮助实验室工作人员以前所未有的轻松方式来应对在分析领域所遇到的挑战。 Nicolet iS50傅立叶变换红外(FT-IR)光谱仪高度灵活的系统可从简单的FT-IR光谱仪升级为全自动多光谱系统,该系统可获取从远红外至可见光的光谱。用户可一键起用全新ATR、拉曼和近红外模块,而无需手工改变系统组件。 在您的分析实验室中,快速、方便的工作流程是必不可少的,Thermo
AS-Solar5000  
AS-Solar5000
AS-Solar5000光源发出的光通过光纤和反射式积分球(InterSphere)在物体表面发生漫反射被特别设计的积分器收集,再通过积分球另外的一个接口送到分光光度计。不管样品表面是绒面还是抛光的,所有的反射光和散射光都会被测量到。整体反射率用来测量制绒后和镀膜后硅片的反射率。通过标准逻辑运算计算出您想要的颜色值xyY等
FMT-350  
FMT-350
The FMT interface displays both I-V and Suns-Voc data. This permits direct comparisons of module data to cell data and quick identification of series resistance, shunting, and cell mismatch.