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太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200  
太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200
太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200 用于绒面电池的绒面形貌观察
SBS-150 少子寿命  
SBS-150 少子寿命
SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感,能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。
WCT-IL800  
WCT-IL800
快速在线监测。实现了准确监控少子寿命,方块电阻和缺陷密度的情况。
薄膜测厚仪(Thin Film Measurement Systems)  
薄膜测厚仪(Thin Film Measurement Systems)
大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量: 氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、半导体化合物(AlGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene, 聚甲基丙烯酸甲酯, 聚酰胺), 薄金属薄膜等。
薄膜应力测量系统  
薄膜应力测量系统
世界顶级薄膜应力测量系统,MOS技术荣获美国专利!曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee!
飞秒瞬态吸收光谱仪  
飞秒瞬态吸收光谱仪
飞秒瞬态吸收光谱仪;瞬渺瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量最广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择“泵浦”和“探测”脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone and Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小,具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
太阳能电池数片机  
太阳能电池数片机
太阳能电池数片机 1. 太阳电池之厚度 : 160~350μm 2. 太阳电池之外形尺寸规格 : 100×100 mm ~ 210×210 mm之方形或圆形太阳电池(更大尺寸或特殊规格亦可,请另洽本公司) 3. 单次最大数片量 : 150 片 (可扩充至250片,请另洽本公司) b. 数片速度(250片) : 1 秒 c. 自动移载时间 < 6秒 d. 尺寸重量 :
太阳能电池激光加工系统  
太阳能电池激光加工系统
太阳能电池激光加工系统 这套太阳能电池飞秒激光加工系统是全球第一款真正意义上的工业级太能电池加工系统,设计要求达到了3MW/a的生产能力,配备一流的紫外飞秒激光和纳秒红外激光,加工效果是目前激光微细加工领域效果最好的光源
工业级飞秒激光微加工系统  
工业级飞秒激光微加工系统
工业级飞秒激光微加工系统 这套飞秒激光微加工系统专业为工业微加工研究和生产而研发的成熟的超快激光微加工系统,可用于飞秒激光打孔,飞秒激光蚀刻,飞秒激光多光子聚合,具有非常绝佳的可靠性和超高的加工速度。
深能级瞬态谱仪(Deep Level Transient Spectroscopy system)  
深能级瞬态谱仪(Deep Level Transient Spectroscopy system)
深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段!测试功能:电容模式、定电容模式、电流模式、(双关联模式)、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS; 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容(△C~t)技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱,是一种具
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统  
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统
荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs,可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因,如:烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净,发射层是否平整均匀,电极是否有虚印、断线等等
半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度  
半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
ResMap 273  
ResMap 273
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC  
CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
CDE ResMap Model 468  
CDE ResMap Model 468
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪  
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪
分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命
太阳能电池模拟器(小面积CLASS-BBA)  
太阳能电池模拟器(小面积CLASS-BBA)
这种模拟器,配备标准AM1.5个太阳光谱,均匀性好,稳定性好,可以测量小至直径1cm的太阳电池样品,具有成本低的特点。