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 | Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system) | |
 | IQE-SCAN 光谱量子效率IQE-SCAN 光谱量子效率和反射该工具专为自动IQE分析而设计 晶体硅太阳能电池 | |
 | 光伏测试专用美国ResMap四点探针光伏测试专用美国ResMap四点探针针：CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现 性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可 | |
 | suns-Voc测试仪suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线 | |
 | 太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor, Power Convert Efficiency 采用KEITHLEY Source Meter 可加配任意品牌之太阳光模拟器 | |
 | 3S探针台 手动探针台 自动探针台3S探针台：3S提供多种用途探针台，包括：晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台）、霍尔效应探针台、客户订制探针台； 提供探针台部件，包括：长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆； 已有探针台的升级 | |
 | 红外硅锭缺陷检测仪红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使 | |
 | 霍尔效应测试仪霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助 | |
 | 光伏电池板检测显微镜光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜：SDMM-4000C(无穷远光学设计) | |
 | PN型号测试笔PN型号测试笔 | |
 | 半导体行业专用CDE ResMap 四点探针CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | 变温霍尔效应测试仪Hall8686台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳 | |
 | FMT_CCT这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。 | |
 | Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50 | |
 | 二次离子质谱仪二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。 | |
 | 紫外太阳模拟器紫外太阳模拟器 | |
 | 台阶仪台阶仪 | |
 | 太阳能模拟器QuickSun 120CA是一种多功能电池的质量控制和开发应用太阳能模拟器。它在一个单一的flash里面评价标准IV-特性。随着发光衰减电池分析方法（IDCAM）选项，系统还可以测量和评价两个二极管等效电路参数，提供了前所未有的物理学的基本电池的科学信息。 | |
 | PVE300太阳能电池量子效率测试仪外量子效率External Quantum Efficiency 太阳能电池（光电材料）光谱响应测试，或称量子效率QE（Quantum Efficiency）测试，或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等，广义来说，就是测量太阳能电池（光电材料）的光电特性在不同波长光照条件下的数值，所谓光电特性包括：光生电流、光导等。 | |
