霍尔效应测试仪,是用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数,而这些参数是了解半导体材料电学特性必须预先掌控的,因此是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。
上海·销售+技术支持+售后服务中心Rayscience Optoelectronic Innovation Co., Ltd 地址:上海市闵行区总部一号都会路2338弄122号楼4楼电话:021-34635258 021-34635259传真:021-34635260 E-mail: saleschina@rayscience.com; Amin@rayscience.com