产品特点：
u 以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。
u 除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。
产品规格：
样品对应尺寸
20mm×20mm～大型尺寸玻璃基板（2000mm×2000mm以上）
液晶层间隙测量范围
0.1μm～数十μm
液晶层间隙测量再现性
±0.005μm
检测器
分光光谱仪
测量波长范围
400～800nm
光学系统
偏光光学系统
消光率10-5方解石偏光（Gran-tomson prism）
自动旋转（角度 精度0.1º）
自动装卸装置
测量口径
Φ2，5，10（mm）
光轴倾斜角度
-10～45º（选配功能）
重量
约60kg
光学配件：
相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料
