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 | 太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200 用于绒面电池的绒面形貌观察 | |
 | 二次离子质谱仪二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。 | |
 | 光学膜厚仪美国光学膜厚仪，广泛应用于各种薄膜、涂层光学常数(n and k)和厚度的精确测量，设备分为在线和离线两种工作模式，操作便捷，几秒钟内即可完成测量和数据分析，USB 连接计算机控制； 薄膜表面或界面的反射光会与从基底的反射光相干涉，干涉的发生与膜厚及折光系数等有关，因此可通过计算得到薄膜的厚度。光干涉法是一种无损、精确且快速的光学薄膜厚度测量技术，我们的薄膜测量系统采用光干涉原理测量薄膜厚度。 | |
 | 四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化，可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。 在点击地图后将探头导航到所需位置后，可以重新测量单点。 | |
 | 薄膜应力测量系统世界顶级薄膜应力测量系统，MOS技术荣获美国专利！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！ | |
 | JX2008硅材料综合测试仪JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。 | |
 | IQE-SCAN 光谱量子效率IQE-SCAN 光谱量子效率和反射该工具专为自动IQE分析而设计 晶体硅太阳能电池 | |
 | 细胞3D实时动态显微镜瑞士Lyncee tec公司的细胞3D实时动态显微镜“DHM（Digital Holographic Microscopy）是划时代性的高科技技术产品，科学史上第一次，数字全息显微镜可以直接观测到纳米尺度的分辨率，即时得到样品三维形貌，并且是无接触式的无损测量。 T1000系列主要应用在生命科学领域、显微光学和显微流体。在生命科学领域，DHM可以直接提供精确的生态学测量。无需附加的对比剂、使用很低的照明功率。它对很小的形态改变和细胞内成份的变化都非常灵敏。因此，DHMT1001是高效筛选和实时监测 | |
 | 辐射计PMA2100是一款科研级数据记录辐射计，它可以通过超过35种不同探测器的搭配来对UVA, UVB, UVC, Visible, 以及 IR 光进行测量. PMA2100采用智能传感器探测和进行数据处理，还可以让用户快速加入新的传感器来测量不同种类的光，而无需更换表头。PMA2100具有图解显示，数据记录，综合处理运算，单位选择测量，平均，最小最大跟踪，剂量综合，阈值报警设置功能。所有的这些功能都集成在这个手持式的设备里。 | |
 | IV5 IV 测试仪/太阳模拟器太阳能电池IV测试模拟器，配备ABA级光源。适用于小面积太阳电池测试。 | |
 | 光伏检测显微镜光伏检测显微镜:随着多晶硅，硅片，太阳能电池片工艺的不断发展与提高，光伏产业对硅片及电池片质量的检测要求越来越高。本仪器专门用于对硅片以及太阳能电池片的显微质量检测，检测结果快速直观准确。 ■ 对于硅片的错位、层错、划痕、崩边等缺陷进行检测； ■ 对硅片的杂质、残留物成分进行分析； ■ 太阳能电池片的制绒质量检测、柵线尺寸精确测量、裂片、污染等缺陷的检测。 | |
 | 紫外太阳模拟器紫外太阳模拟器 | |
 | 3S探针台 手动探针台 自动探针台3S探针台：3S提供多种用途探针台，包括：晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台）、霍尔效应探针台、客户订制探针台； 提供探针台部件，包括：长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆； 已有探针台的升级 | |
 | 太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor, Power Convert Efficiency 采用KEITHLEY Source Meter 可加配任意品牌之太阳光模拟器 | |
 | 太阳能电池模拟器（小面积CLASS-BBA）这种模拟器，配备标准AM1.5个太阳光谱，均匀性好，稳定性好，可以测量小至直径1cm的太阳电池样品，具有成本低的特点。 | |
 | UNION 高倍率二次元工具显微镜UNION 高倍率二次元工具显微镜 | |
 | 晶圆/材料厚度弯曲度量测系统晶圓/材料厚度彎曲度量測系統 晶圆/材料厚度弯曲度量测系统 | |
 | 少子寿命测试仪-WCT-120MX美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。 | |
