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订购热线:021-3463-5258 021-3463-5259
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 | Photoluminescence(PL)Photoluminescence (PL) PL2011是瞬渺光电研发提供的一种灵活的研发和特征分析系统。 该系统具有灵活的手动负载样品平台，可以用于原切割晶圆，部分或整块地加工电池 和 有选择地检测 块状物或部分组件单元 。 | |
 | 接触电阻测试仪 TLM-SCAN+ 多功能太阳电池栅线接触电阻测试仪 无相机接触电阻率等等 TLM-SCAN+ 多功能太阳电池栅线接触电阻测试仪 这款紧凑型仪器测量成品太阳能电池的接触电阻率，手指线电阻，手指宽度和手指高度，或者测试结构。 通过在所有轴上电动化，可以通过按一个按钮来创建所有这些方法的地图。 用于测量薄扩散层的薄层电阻和晶圆电阻率的四点探头，使得TLM-SCAN +成为一种低成本，快速，高质量的四点探针贴图仪。 | |
 | 太阳能电池IV特性测量系统太阳能电池IV特性测量系统 | |
 | 深能级瞬态谱仪（Deep Level Transient Spectroscopy system）深能级瞬态谱仪是半导体领域研究和检测半导体杂质、缺陷深能级、界面态等的重要技术手段！测试功能：电容模式、定电容模式、电流模式、（双关联模式）、Zerbst模式、光激发模式、FET分析、MOS分析、等温瞬态谱、Trap profiling、俘获截面测量、I/V,I/V(T) 查理森Plot分析、C/V, C/V(T) 、TSC/TSCAP 、光子诱导瞬态谱、DLOS； 测试根据半导体P-N结、金-半接触结构肖特基结的瞬态电容（△C~t）技术和深能级瞬态谱的发射率窗技术测量出的深能级瞬态谱，是一种具 | |
 | SOLAR 辐照度仪SOLAR 辐照度仪 | |
 | CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等 | |
 | 碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪碳氧含量分析仪Nicolet 6700测试仪 傅立叶红外光谱仪 | |
 | SBS-150 少子寿命SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感，能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。 | |
 | 光伏测试太阳模拟器16S-300-00216S是一款即用型光电池测试光源。16S-300-002具备全光谱“A”级光谱输出（AM1.5）。16S-002配有垂直光束适配器可以将光束改变方向垂直向下照射。典型光斑尺寸2.25英寸，1太阳输出强度。用户可定制光斑大小。 通过调节电源上的旋钮，输出光强可调节范围为0%-100%。通过Solar Light公司提供的衰减工具包，可对光强进行10%-100%调节。 16S精确再现了全波段太阳光谱。符合最新的ASTM光源标准，许多需要G151和G155标准的ASTM标准可由16S-002达到。16S | |
 | 红外热像仪检测光伏组件/单片领域的成功应用红外热像仪根据多年红外产品的开发经验，综合了世界上各种先进红外热像仪产品的优点，最新研制的一款集红外、可见光、激光指示等功能于一身的高端工业检测型红外热像仪。 HY-G90除了自身具有完备的分析功能以外，也可通过PC卡将所存储的图像倒入计算机软件进行更深一步的分析。而且，该软件还可以通过选配的RS232以及USB2.0借口实现热像仪与计算机之间的直接连接，进行计算机遥控与图像高速传输。 HY-G90红外热像仪的外观设计在符合人体工程学的基础上，更增加了顶置的可拆卸遥控液晶屏，它不仅外型美观，而且顶置液晶屏 | |
 | WCT-120TS变温少子寿命测试仪分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪 | |
 | ResMap 168ResMap 168168•Auto- loading cassette ◦4" - 8" wafer auto load◦2" - 8" wafer manual load•Table top model•Fast measurement time•Wide variety of mapping patterns | |
 | Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50 | |
 | SPF测试紫外日光模拟器Solar Light TM 日光模拟器应用于全球 95% 的SPF 测试实验室，符合最新的COLIPA, JCIA, 以及FDA 光谱辐射标准。 | |
 | 霍尔效应测试仪霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助 | |
 | CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OCCDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | 接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN接触电阻率等等 TLM-SCAN 多功能太阳电池栅线接触电阻测试仪 这款紧凑型仪器测量成品太阳能电池的接触电阻率，手指线电阻，手指宽度和手指高度，或者测试结构。 通过在所有轴上电动化，可以通过按一个按钮来创建所有这些方法的地图。 用于测量薄扩散层的薄层电阻和晶圆电阻率的四点探头，使得TLM-SCAN +成为一种低成本，快速，高质量的四点探针贴图仪。 | |
 | FMT_CCT这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。 | |
 | 光伏电池板检测显微镜光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜：SDMM-4000C(无穷远光学设计) | |
 | ResMap 463-OCResMap 463-OC463-OC•300mm wafer auto load ◦200mm, 150mm options◦Manual load any size•Dual or quad probe changer•Stand-alone system•Wide variety of mapping patterns | |