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Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试  
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试
美国Filmetrics光学膜厚测量仪,利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50
SPF测试紫外日光模拟器  
SPF测试紫外日光模拟器
Solar Light TM 日光模拟器应用于全球 95% 的SPF 测试实验室,符合最新的COLIPA, JCIA, 以及FDA 光谱辐射标准。
霍尔效应测试仪  
霍尔效应测试仪
霍尔效应测试仪:主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助
Zeta-300 光学轮廓仪 表面轮廓测试系统  
Zeta-300 光学轮廓仪 表面轮廓测试系统
样品本色三维轮廓仪:ZETA-20 具备多模式光学技术的样品本色三维非接触式光学轮廓仪,最顶级的3D成像及测试系统 (为用户量身打造的表面轮廓测量设备,是表面量测领域的最佳选择 ) ##细栅线和主栅线的自动测量 ##单晶和多晶硅绒面测量 ##对裸露的和AR涂层的表面清晰成像 ##提供重要的统计数据,如尺寸,高度分布和体表面积比
太阳能模拟器(SCD1)IV测试仪  
太阳能模拟器(SCD1)IV测试仪
这种测试仪适用于已经有光源的用户,仅采集IV数据。
光伏测试太阳模拟器 LS11000  
光伏测试太阳模拟器 LS11000
LS1000是一款即用型太阳能电池测试光源。LS1000具备日光全光谱“A”级光谱输出,+/- 5%均匀性,垂直或水平光束输出可选,典型6英寸圆形光斑(1太阳常数输出光强)。可定制光斑大小。 LS1000精确再现了日光全光谱,符合最新的 ASTM太阳模拟器标准。许多需要G151和G155标准的ASTM标准可由LS1000达到。LS1000可依照ASTM标准E948-09和G173-03e1来测试太阳能电池。
便携式IV测试仪 太阳模拟器  
便携式IV测试仪 太阳模拟器
便携式IV测试仪,太阳模拟器,可以测组件。
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)  
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)
少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件)
太阳能电池量子效率测试系统  
太阳能电池量子效率测试系统
太阳能电池量子效率测试系统:太阳能电池量子效率测量系统(光谱响应测试系统、IPCE测试系统),广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应,EQE外量子效率,IQE内量子效率,IPCE,相对反射率,绝对反射率,相对透射率,绝对透射率等测量和研究;匹配国际测试标准:IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准;波长范围:300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm
体外SPF测试PMMA 板预辐照光源  
体外SPF测试PMMA 板预辐照光源
购置SPF-290AS 的用户必须使用预辐照光源完成相关测试。 1. 将遮光剂涂于 PMMA 板或者其他介质表面。 2. 对 PMMA 板进行预辐照。FDA 规定是4MEDs。COLIPA 的规定更多取决于用于测试的材料。 3. 对经过预辐照的PMMA板进行分析。 可对1,4,或者9 个 PMMA 板提供 4MED(1 MED = 210 J/m² = 0.021 J/cm² = 21mJ/cm² (effective))剂量的预辐照。
量子效率测试仪  
量子效率测试仪
量子效率测试仪 此工具专为IQE的自动IQE分析而设计 晶体硅太阳能电池。一些功能是: ·太阳能电池采用可变光照明,均匀地覆盖20 x 20 mm的区域, 或者聚焦点约为。 1 x 3mm²。 ·通过连续移动4平方厘米的照明区域进行全面的EQE和反射率测量。 ·来自单​​色器的280-1600 nm之间的单色光(2个光栅,狭缝宽度和有序滤光片自动改变)。通常使用的带宽为8 nm FWHM,波长精度为1 nm。
变温霍尔效应测试仪Hall8686  
变温霍尔效应测试仪Hall8686
台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪,在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便,易于携带,主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳
IV16 太阳模拟器/IV测试仪  
IV16 太阳模拟器/IV测试仪
可以测量160*160mm大小以下,比如156的电池片的IV
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。
JX2008硅材料综合测试仪  
JX2008硅材料综合测试仪
JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪  
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪
这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化,可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。 在点击地图后将探头导航到所需位置后,可以重新测量单点。
IV5 IV 测试仪/太阳模拟器  
IV5 IV 测试仪/太阳模拟器
太阳能电池IV测试模拟器,配备ABA级光源。适用于小面积太阳电池测试。