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 | 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。 | |
 | Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16SUshio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 ，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片 | |
 | 供应光伏配件，Berger测试氙灯等供应光伏配件，Berger测试氙灯等 | |
 | CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等 | |
 | 半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度 | |
 | WCT-120PL荧光少子寿命测试仪分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命 | |
 | 太阳能模拟器（SCD1)IV测试仪这种测试仪适用于已经有光源的用户，仅采集IV数据。 | |
 | IV5 IV 测试仪/太阳模拟器太阳能电池IV测试模拟器，配备ABA级光源。适用于小面积太阳电池测试。 | |
 | IV10 IV测试仪/太阳能模拟器IV 模拟器，测量10*10cm大小太阳能电池。光源ABA级别。 | |
 | IV16 太阳模拟器/IV测试仪可以测量160*160mm大小以下，比如156的电池片的IV | |
 | 便携式IV测试仪 太阳模拟器便携式IV测试仪，太阳模拟器，可以测组件。 | |
 | WCT-120TS变温少子寿命测试仪分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪 | |
 | CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | 薄膜应力&晶圆弯曲（翘曲）测试系统薄膜应力&晶圆弯曲（翘曲）测试系统 Film Stress & Wafer Bow Measurement System | |
 | 反射率测试仪反射率测试仪 | |
 | 平面显示器（FPD）大尺寸样品专用测试仪从规划设计、开发制造、到现场安装调整及教学支援等，皆秉持一贯的品质自行完成。 面对市场多元化的需求，以优异的技术、丰富的实绩、安心的售后服务，提供最完善的膜厚解析方案。 | |
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