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双面PERC电池的可逆与不可逆PID快速测试解决方案

2025-05-21

双面单晶硅电池在正反两面都可以接受光照，因此在太阳能的利用效率上较传统的单面电池具有诸多方面的优点，双面晶硅电池技术脱颖而出，占据太阳能电池的主导地位。双面 PERC 电池背面PID会导致严重的功率损失。与单面 PERC 太阳能电池相比，可以发生可逆的去极化相关电位诱导衰退（PID-p）和不可逆的腐蚀电位诱导衰退（PID-c）。研究表明，一个可靠的评估太阳能电池功率损失的方法需要一种改进的 PID 测试方法，需要在高压测试上附加光照。此外，还需要在测试方案中加入恢复步骤来将可逆 PID-p 与不可逆 PID-c 造成损伤的区分开来。退化程度和 PID-p 和 PIC-c 的贡献敏感地依赖于所研究的太阳能电池。因此，在双面 PERC 电池的 PID 测试方案中需包括 PID 高压期间的附加光照和恢复步骤。

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MDP 技术-硅锭质量评估的 “透视眼”

2025-05-21

在光伏生产链中，硅锭材料质量评估对晶体生长者优化结晶过程、电池、芯片制造商筛选材料以降本增效极为重要。传统依赖最终效率的反馈方式存在诸多不足，MDP技术则为早期质量评估提供了新途径。 Freiberg Instruments相关技术或设备助力实现用MDP技术在硅砖四个侧面以1mm分辨率测量空间寿命和电阻率图像。这种测量具有非接触、可在线操作且无需校准的优势。MDP技术能够对晶锭的空间分辨载流子寿命和电阻率进行测量，其测量过程为非接触式，可在生产线上实时操作，且无需额外校准。这一特性使得测量过程简便高效，避免了因接触测量带来的误差和对硅砖的损伤，同时能及时获取大量数据，为后续分析提供充足依据。

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MDP技术实现硅材料载流子精准测量

2025-05-21

在光伏产业追求更高效率与更低成本的今天，材料质量的前端控制成为决定太阳能电池性能的关键。德国弗莱贝格仪器公司（Freiberg Instruments GmbH）凭借其全球领先的微波探测光电导技术（Microwave Detected Photoconductivity, MDP），为硅材料从铸锭到晶圆的全程质量控制提供了革命性解决方案。

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Freiberg MDP技术：硅锭p-n结高精度在线定位与原料提效

2025-05-21

在光伏产业高速发展的今天，硅材料成本占太阳能电池总成本的40%以上。为降低生产成本，行业普遍采用低纯度冶金级硅（umg-Si），但其高磷杂质含量易导致硅锭顶部形成n型导电区，造成材料浪费。传统电阻率检测技术受限于分辨率低（通常>10 mm）、无法全区域扫描等缺陷，导致切割后硅片良率损失高达5%-8%。 Freiberg Instruments公司凭借自主研发的微波检测光电导技术（MDP），成功实现多晶硅锭导电类型变化的1毫米级高分辨率在线检测，将检测环节前置至硅锭切割前，助力企业精准剔除废料、优化生产工艺。该技术已通过全球数十家光伏巨头的验证，成为硅材料质量控制领域的标杆解决方案。

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