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PROVA-200太阳能电池分析仪  
PROVA-200太阳能电池分析仪
PROVA-200太阳能电池分析仪:单晶片I-V特性曲线测试 可找出太阳能模组最大功率的工作点 (Vmaxp, Imaxp) 量测最大功率时 (Pmax) 的最大电压 (Vmaxp) 最大电流 (Imaxp) 量测开路电压 (Vopen) 与短路电流 (Ishort) 移动指标可显示I-V特性曲线每一点的特性值 可选购携带式印表机将图形与特性值直接复制下来 在标准光源下可直接显示太阳能电池的转换效率η(%) 与FF值 可以自动扫瞄或单点测试
JX2008硅材料综合测试仪  
JX2008硅材料综合测试仪
JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。
台阶仪ET200/台阶仪  
台阶仪ET200/台阶仪
日本KOSAKA 台阶仪ET200:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)  
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL):大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
Photoluminescence(PL)  
Photoluminescence(PL)
Photoluminescence (PL) PL2011是瞬渺光电研发提供的一种灵活的研发和特征分析系统。 该系统具有灵活的手动负载样品平台,可以用于原切割晶圆,部分或整块地加工电池 和 有选择地检测 块状物或部分组件单元 。
WAFER PROFILER CVP21  
WAFER PROFILER CVP21
WAFER PROFILER CVP21 The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production. This ECV Profiler
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