染料敏化电池

In-Line PECVD system for HIT junctions 用于制备高效异质结太阳电池的直线型等离子体化学气相沉积系统

Thermo Scientific Nicolet iS50配有专业化的附件和集成的分析软件，能够提供一个真正一体化的材料分析平台,帮助实验室工作人员以前所未有的轻松方式来应对在分析领域所遇到的挑战。 Nicolet iS50傅立叶变换红外（FT-IR）光谱仪高度灵活的系统可从简单的FT-IR光谱仪升级为全自动多光谱系统,该系统可获取从远红外至可见光的光谱。用户可一键起用全新ATR、拉曼和近红外模块,而无需手工改变系统组件。在您的分析实验室中，快速、方便的工作流程是必不可少的，Thermo

薄膜应力&晶圆弯曲（翘曲）测试系统

薄膜应力&晶圆弯曲（翘曲）测试系统 Film Stress & Wafer Bow Measurement System

LED光色电检查系统（半球）

HalfMoon为大塚电子株式会社的登记商标。积分半球构造： * 半球状的积分球利用镜面的反射虚象，构成对称的全球状的积分球。 * 光源点灯器设置于积分球外部，可搭配散热器散热。

反射率测试仪

反射式膜厚测量仪

FPD-LCD、TFT、OLED（有机EL）半导体、复合半导体矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料光学材料 -滤光片、抗反射膜平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED 薄膜-AR膜其他-建筑用材料

AS-Solar5000

AS-Solar5000光源发出的光通过光纤和反射式积分球(InterSphere)在物体表面发生漫反射被特别设计的积分器收集，再通过积分球另外的一个接口送到分光光度计。不管样品表面是绒面还是抛光的，所有的反射光和散射光都会被测量到。整体反射率用来测量制绒后和镀膜后硅片的反射率。通过标准逻辑运算计算出您想要的颜色值xyY等

嵌入式膜厚测量仪

Ø 自由搭配的光纤架构，可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。 Ø 远端同步控制、高速多点同步测量等。 Ø 丰富多样的光学系统套件与应用软件，提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。

椭圆偏光膜厚测量仪（自动）

椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。

椭圆偏光膜厚测量仪（手动）

400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。自动变更反射测量角度，可得到更详细的薄膜解析数据。采用正弦杆自动驱动方式，展现测量角度变更时优异的移动精度。搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。

膜厚测量仪

薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。高性能的低价光学薄膜测量仪。藉由绝对反射率光谱分析膜厚。完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手。非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)

膜厚光谱分析仪系统

平面显示器模组测量：平面显示器（FPD）模组、液晶显示器（LCD）模组、电浆显示器（PDP）模组、CRT显示器、OLED面板

显微分光膜厚测量仪

优异的性价比，低价格却可达到相近于高端膜厚计的测量再现性。中文化操作介面，入门简易、沟通无障碍。提供完整测量教学、技术支援、点检校正等售后服务。采用标准样品验证膜厚精度与再现性，确保追溯体制的完整。显微镜聚焦下的微距口径测量。

液晶层间隙(Cell gap)测量设备

以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。

平面显示器（FPD）大尺寸样品专用测试仪

从规划设计、开发制造、到现场安装调整及教学支援等，皆秉持一贯的品质自行完成。面对市场多元化的需求，以优异的技术、丰富的实绩、安心的售后服务，提供最完善的膜厚解析方案。

液晶（LCD）面板、背光模组光电综合检查仪

可依据所测量的光电特性、温度特性评价LCD面板显示性能。可在-35℃～90℃的环境下，支援视角80°的360°视角锥测量(Viewing Cone)。

平面显示器（FPD）光电特性检测仪

全自动检查FPD模组的显示性能及LCD背光模组的亮灯性能。检测器除使用本公司所提供之"高感度分光放射辉度计"以外，亦可搭配其它品牌的辉度计。具备室温下，与0～50℃恒温槽内等两种测量规格。支持各种市售的图形产生器(Pattern generator)。可视测量样品自由编辑参数，如检查项目、检查条件、判定条件等，在编辑完成后，将进行全自动检查。检查结果可输出成报告格式，自动存档。

OLED元件光电特性检测设备

关键性的光谱仪除采用高感度之高感度分光光谱仪(MCPD-7000)以外，亦可搭配新产品"高感度分光放射辉度计"及其相关套件达到更深度的检测能力。驱动亮灯用的直流电源，最适合作为辉度、色度、LIV测量、发光效率、外部量子效率等OLED元件光学特性之综合性评估。

光伏测试用日光模拟器

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