染料敏化电池

少子寿命测量仪BLS-测试硅棒

少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

日本KOSAKA 台阶仪ET200：KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。

量子效率测量系统

即时性內部量子效率测量。大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配)

I-V400专业光伏（太阳能）模组I-V特性分析仪

太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN（帕山）太阳能电池检测仪

瑞士PASAN公司是太阳能电池板及电池组件测试的全球领导者，隶属于瑞士3S太阳能集团，多年来致力于高端太阳能电池板及电池组件测试设备的研发和生产，凭借集团强大的技术实力，为客户提供阳光模拟器、电池板检测仪、电池板分选机、电池板短路检测仪等产品，服务的客户遍布世界，享誉全球。

专业供应PMA2110 UVA 探测器--

JX2008硅材料综合测试仪

JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

红外热像仪检测光伏组件/单片领域的成功应用

红外热像仪根据多年红外产品的开发经验，综合了世界上各种先进红外热像仪产品的优点，最新研制的一款集红外、可见光、激光指示等功能于一身的高端工业检测型红外热像仪。 HY-G90除了自身具有完备的分析功能以外，也可通过PC卡将所存储的图像倒入计算机软件进行更深一步的分析。而且，该软件还可以通过选配的RS232以及USB2.0借口实现热像仪与计算机之间的直接连接，进行计算机遥控与图像高速传输。 HY-G90红外热像仪的外观设计在符合人体工程学的基础上，更增加了顶置的可拆卸遥控液晶屏，它不仅外型美观，而且顶置液晶屏