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 | 光伏测试专用美国ResMap四点探针光伏测试专用美国ResMap四点探针针：CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现 性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可 | |
 | suns-Voc测试仪suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线 | |
 | 太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor, Power Convert Efficiency 采用KEITHLEY Source Meter 可加配任意品牌之太阳光模拟器 | |
 | 3S探针台 手动探针台 自动探针台3S探针台：3S提供多种用途探针台，包括：晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台）、霍尔效应探针台、客户订制探针台； 提供探针台部件，包括：长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆； 已有探针台的升级 | |
 | 红外硅锭缺陷检测仪红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使 | |
 | 太阳能电池激光划片机太阳能电池激光划片机：·应用领域 太阳能光伏行业中，单晶硅、多晶硅及非晶硅太阳能电池片和硅片的划片加工。 ·产品特点 采用氪灯泵浦（YAG）激光器，采用声光调制系统、数控X-Y运动工作台及步进电机驱动； 系统采用国际流行的模块化设计，关键部件均采用进口产品； 设备高可靠、高精度、高效率； 软件升级至3.0版且安装移机简单方便； 高精度一体化恒温循环水冷；长时间运行稳定可靠； | |
 | 霍尔效应测试仪霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助 | |
 | 光伏电池板检测显微镜光伏电池板检测显微镜|研究型大平台三目正置式金相显微镜：SDMM-4000C(无穷远光学设计) | |
| | SpectroradiometerSpectroradiometer | |
| | Portable I-V Testers for PV ModulesPortable I-V Testers for PV Modules | |
| | Solar Simulator Uniformity MapperSolar Simulator Uniformity Mapper | |
| | Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement SystemSpectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement System | |
| | Reference CellsReference Cells | |
| | 扩展电阻仪 (SRP)SRP (Spreading Resistance Profiling) 扩展电阻测试系统是用一对专用的点接触探针，沿着样品表面以很小的增量步进，测出每一点的扩展电阻值，绘出样品的电阻、电阻率和掺杂浓度的分布曲线。利用SRP法不仅可以得到外延层的电阻率分布等电学性质，而且可以确定外延层的厚度和界面杂质的过渡区分布。 | |
| | PN型号测试笔PN型号测试笔 | |
 | 半导体行业专用CDE ResMap 四点探针CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的 | |
 | 变温霍尔效应测试仪Hall8686台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳 | |
 | FMT_CCT这个电池测量系统具有很高精确度，用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。 | |
 | 脉冲激光沉积（Pulsed Laser Deposition，PLD）脉冲激光沉积（Pulsed Laser Deposition，PLD） | |
 | Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50 | |