Filmetrics 的目标就是设计经济有效的微型光谱仪系统,而硅控线型光电传感器技术的最新发展使这一目标得以实现。 我们把先进的技术、软件、和丰富的薄膜经验结合在一起,创造出了简单而直观的 Windows 界面。 其成果就是 F20,这是一种很简洁的系统,具有令人惊异的速度和准确性,生产操作人员只需要几分钟培训即可使用仪器 – 而所有这一切只有传统仪器几分之一的价格。
我们的成就已经获得了业内新闻界的广泛承认,我们的产品被评为年度“100 种最具技术意义”的产品之一和年度“25 项最佳新产品”之一。
研究开发杂志
• 1977 年,Filmetrics F30 产品当选 “研发 100 大奖”。
• 2002年,Filmetrics 的厚度成像技术当选 “研发 100 大奖”。
光子光谱杂志
• 1998年,Filmetrics F20 被评为 “25 项最佳新产品”。
Filmetrics 产品轻点鼠标就能测量1纳米到1毫米的薄膜厚度。几乎所有的材料都可以被测量。直观的设计意味着您能在几分钟内完成第一个薄膜厚度测量!
我们通过分析光如何从薄膜反射来测量薄膜厚度。通过分析肉眼看不见的光谱我们能测量几乎所有超过100原子厚度的非金属薄膜。因为不涉及任何移动设备,几秒钟之内就能测出:薄膜厚度,折射率,甚至粗燥度
半导体制造 |
液晶显示器 |
光学镀膜 |
photoresist光刻胶
oxides氧化物
nitrides氮化物 |
cell gaps液晶间隙
polyimide聚酰亚胺
ito纳米铟锡金属氧化物 |
hardness coatings硬镀膜
anti-reflection coatings增透镀膜
filters滤光 |
|
F20-UV |
F20 |
F20-NIR |
F20-EXR |
只测试厚度 |
3nm ~ 70μm |
15nm ~ 70μm |
100nm ~ 250μm |
15nm ~ 250μm |
测试厚度和n&k值 |
50nm ~ 5μm |
100nm ~ 5μm |
300nm ~ 10μm |
100nm ~ 10μm |
波长范围 |
200-1100nm |
380-1100nm |
950-1700nm |
380-1700nm |
准确度 |
大于 0.4% 或 2nm | |||
精度 |
1A |
2A |
1A | |
稳定性 |
0.7A |
1.2A |
0.7A | |
光斑大小 |
20μm至1.5mm可调 | |||
样品大小 |
1mm至300mm 及更大 | |||
探测器类型 |
1250-元素硅阵列 |
512-元素 砷化铟镓 |
1000-元素 硅 & 512-砷化铟镓阵列 | |
光源 |
钨卤素灯,氚灯 | |||
电脑要求 |
60mb 硬盘空间 50mb 空闲内存 usb接口 | |||
电源要求 |
100-240 vac, 50-60 hz, 0.3-0.1 a |