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Jandel通用型四探针测试仪  4探针测试系统(4 point probe measurement system)
 
   
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Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)

Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)

  • 商品编号:RM300
  • 货  号:RM300
  • 品  牌:Jandel
  • 销售价:
购买数量:
  (库存100)

Jandel公司提供的RM300测试单元结合可调节高度支架探头,可为各种各样的测量提供解决方案.

这种组合方式是目前jandel公司最受欢迎的产品.

该系统可用于测量各种薄层的小尺寸样本以及直径300mm高250mm的晶圆锭 (检测厚样品之前要咨询)。



可测晶片直径

D≤250mm,(可选配D≤300mm,无需付费)

可测晶片厚度

H≤250mm,(可更厚,请咨询)

微动开关

防止探针不与样品接触时的电流流动

手动控制

探针接触和移动的简单杠杆操作

装配简单

RM300和四探针探头通过单线连接

系统配置

组成部件:

  1. 1.     测试台——一个

  2. 2.     可调节高度主机——一台

  3. 3.     可调节高度轴杆——一根

  4. 4.     四探针探头——一个

  5. 5.     连接电缆——一根

 

设备尺寸:

可调节高度测试台: W×L×H(mm)250×290×8(320×370×8,可选)

可调节高度探头组件:W×L×H(mm)60×280×80(60×330×80,可选)

可调节高度的轴杆:D(mm)19;L(mm)200(可定制最高高度到1000mm)



型号

针尖角(u)

压力(g)

间距(mm)

A

40

100

1

B

100

100

1

C

200

100

1

D

500

70

1

E

40

200

  1. 1.591

F

40

100

  1. 0.635

G

100

100

  1. 0.635

H

200

100

  1. 0.635

A-D型号和E-H型号

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