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非接触电阻率测试仪
 
   
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非接触电阻率测试仪

  • 商品编号:BN-1031EDF0
  • 货  号:BN-1031EDF0
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  (库存100)
品牌晶翔型号JXNR-1
测量范围0.01-50测量精度5%
尺寸360*260*150(mm)重量3kg

JXNR-1非接触电阻率测试仪

  

一、产品特点

       1非接触测量硅半导体材料的电阻率

    2.适合测试硅片,不损伤样品表面。

    3.采用通用PC处理数据,方便数据存储、打印

    4.软件界面直观友好

    5.样片校准快速、方便

 

二、推荐工作条件

1. 温度:23±2℃

2. 湿度:60%~70%

3. 无强光照、无强磁场、不与高频设备邻近


三、参数指标

1.整机尺寸:340mm×260mm×150mm

2.电阻率量程:0.1~50Ω

3.误差范围:±5%

4.硅片厚度:适合150-600um厚度

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