JX2008硅材料综合测试仪

产品特点：

1. 仪器采用220V交流电源供电； 

2. 同时检测半导体材料的电阻率和型号两项指标； 

3. 拥有较高的电阻率测试分辨率，最小可到0.001欧姆.厘米；

4. 能精确的分辨电阻率在0.002欧姆.厘米以上的硅半导体材料型号； 

5. 独立的P/N型重掺告警设置，便于工厂大规模快速选料； 

6. 短路的体积和便携性； 

7. 简单的操作，快速的测试； 

8. 低廉的价格，很高的性价比；

参数指标：

1. 具有电阻率及型号测试功能，适合分选型号，并能够测试并显示出电阻率的值。

2. .电阻率分档直观，P/N报警门限分设。

3. 预设样片厚度，自动修正，直读电阻率.

4. P/N分选精度超强

5. 交流电AC220V供电

6. 主机尺寸：155×120×50mm

7. .电阻率:0.001-100欧姆厘米

8. P/N型号:0.005欧姆厘米<电阻率<100欧姆厘米