Hisomet 高精度三次元工具显微镜 X、Y、Z三轴精密量测,Z轴量测精度可达±1μm光学非接触式,可避免破坏待测物。依客户需求,,搭配量测软体及其他配件。
X、Y、Z三轴精密量测,Z轴量测精度可达±1μm光学非接触式,可避免破坏待测物。依客户需求,,搭配量测软体及其他配件。
特性:
应用范围:
IC封装产业、机械产业、学术研究机构等需要高精度三次元量测的待测物(Sample)