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液晶层间隙(Cell gap)测量设备
 
   
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液晶层间隙(Cell gap)测量设备

以穿透、半穿透方式测量TFT、STN,以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶,也支持反射型TFT、STN液晶。视用途,从研发到品管皆有完整对应机种。 除检测液晶层间隙(Cell gap),也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析,光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。

  • 商品编号:G547BFA191C5BE
  • 货  号:G547BFA191C5BE
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产品特点:                                                           

以穿透、半穿透方式测量TFT、STN,以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶,也支反射型TFT、STN液晶。视用途,从研发到品管皆有完整对应机种。

除检测液晶层间隙(Cell gap),也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析,光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。


 产品规格:                                                            

样品对应尺寸

20mm×20mm~大型尺寸玻璃基板(2000mm×2000mm以上)

液晶层间隙测量范围

0.1μm~数十μm

液晶层间隙测量再现性

±0.005μm

检测器

分光光谱仪

测量波长范围

400800nm

光学系统

偏光光学系统

消光率10-5方解石偏光(Gran-tomson prism

自动旋转(角度 精度0.1º

自动装卸装置

测量口径

Φ2510mm

光轴倾斜角度

-1045º(选配功能)

重量

60kg


光学配件                                                           

相位差膜,椭圆膜,偏光膜,液晶显示器材料

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