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WCT-120PL荧光少子寿命测试仪
 
   
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WCT-120PL荧光少子寿命测试仪

分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命

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WCT-120PL产品分别采用标准QSSPC方法和光致发光法测量硅片的载流子寿命。 瞬态光电导衰减法(PCD)和荧光方法两种互为补充。操作和使用起来和WCT120一样方便。

 

wct-120pl系统能力

主要应用

通过使用QSSPC短暂的寿命测量PL测量制造过程监控和优化步骤

其它功能:

初始材料(硅片)质量监控

(硅片)加工过程中重金属污染晶圆检测

评价表面钝化和发射极的掺杂剂扩散

使用隐含的VOC测量来查找生产过程引入的漏电因素

迭代计算qssplQSSPC数据得到衬底掺杂情况

上图是wct-120pl得到的一个校准的荧光寿命曲线与一个校准的QSSPC寿命曲线产生寿命数据载流子密度对照曲线

更多内容请见附件文件

WCT-120PL晶片寿命测量工具采用的是与WCT-120一样独特的测量与分析技术,同时增加了光致发光(PL)检测器用来测量样品的PL寿命及掺杂情况。该系统采用的是准稳态光电导(QSSPC)寿命测量方法及瞬态光电导衰退(PCD)寿命测量方法,同时还补充采用了校准后的PL寿命测量方法。该工具还可以作为标准的WCT-120使用。

 

WCT-120PL 系统功能

主要应用:采用QSSPC或者瞬态寿命测量及PL测量逐步监控并优化制造过程。

其它应用:

l 监控初步的材料质量

l 检测晶片加工过程中的重金属污染

l 评价表面钝化及发射器掺杂扩散

l 利用隐含的Voc测量评价过程所诱发的分流

l QSSPLQSSPC数据迭代式地计算所有基质的掺杂情况

 


 

提问
非会员顾客 说: 16-04-01 16:10
麻烦发一下相关资料及价格
回答
管理员[Sinton instruments]  回复: 16-04-29 14:49
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪

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