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分类名称: 数字全息显微镜
品牌: HalfMoon(2)
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显微分光膜厚测量仪  
显微分光膜厚测量仪
优异的性价比,低价格却可达到相近于高端膜厚计的测量再现性。 中文化操作介面,入门简易、沟通无障碍。 提供完整测量教学、技术支援、点检校正等售后服务。 采用标准样品验证膜厚精度与再现性,确保追溯体制的完整。 显微镜聚焦下的微距口径测量。 
膜厚光谱分析仪系统  
膜厚光谱分析仪系统
平面显示器模组测量: 平面显示器(FPD)模组、液晶显示器(LCD)模组、电浆显示器(PDP)模组、CRT显示器、OLED面板
嵌入式膜厚测量仪  
嵌入式膜厚测量仪
Ø 自由搭配的光纤架构,可安装于生产线上、半导体晶圆研磨设备或真空镀膜设备中。 Ø 远端同步控制、高速多点同步测量等。 Ø 丰富多样的光学系统套件与应用软件,提供特殊环境下最理想的膜厚解决方案。
膜厚测量仪  
膜厚测量仪
薄膜到厚膜的测量范围、UV~NIR光谱分析。 高性能的低价光学薄膜测量仪。 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。 无复杂设定,操作简单,短时间内即可上手。 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数)
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)  
椭圆偏光膜厚测量仪(手动)
400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。 自动变更反射测量角度,可得到更详细的薄膜解析数据。 采用正弦杆自动驱动方式,展现测量角度变更时优异的移动精度。 搭载薄膜分析所需的全角度同时测量功能。 可测量晶圆与金属表面的光学常数(n:折射率、k:消光系数)。
椭圆偏光膜厚测量仪(自动)  
椭圆偏光膜厚测量仪(自动)
椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。 400波长以上多通道分光的椭偏仪,高速测量椭圆偏光光谱。 可自由变换反射测量角度,得到更详细的薄膜解析数据。 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。
反射式膜厚测量仪  
反射式膜厚测量仪
FPD-LCD、TFT、OLED(有机EL) 半导体、复合半导体 矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料 光学材料 -滤光片、抗反射膜 平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED 薄膜-AR膜 其他-建筑用材料