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少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线,可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。
PVE300太阳能电池量子效率测试仪  
PVE300太阳能电池量子效率测试仪
外量子效率External Quantum Efficiency 太阳能电池(光电材料)光谱响应测试,或称量子效率QE(Quantum Efficiency)测试,或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等,广义来说,就是测量太阳能电池(光电材料)的光电特性在不同波长光照条件下的数值,所谓光电特性包括:光生电流、光导等。
光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度  
光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
光伏使用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
suns-Voc测试仪  
suns-Voc测试仪
suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化,主要测试IV曲线
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度  
半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
半导体专用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
半导体行业专用CDE ResMap 四点探针  
半导体行业专用CDE ResMap 四点探针
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)  
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)
CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
ResMap 273  
ResMap 273
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
光伏测试专用美国ResMap四点探针  
光伏测试专用美国ResMap四点探针
光伏测试专用美国ResMap四点探针针:CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现 性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪  
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪
分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命
WAFER PROFILER CVP21  
WAFER PROFILER CVP21
WAFER PROFILER CVP21 The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production. This ECV Profiler
Jandel通用型四探针测试仪  4探针测试系统(4 point probe measurement system)  
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒  
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒
少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。
太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN(帕山)太阳能电池检测仪  
太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN(帕山)太阳能电池检测仪
瑞士PASAN公司是太阳能电池板及电池组件测试的全球领导者,隶属于瑞士3S太阳能集团,多年来致力于高端太阳能电池板及电池组件测试设备的研发和生产,凭借集团强大的技术实力,为客户提供阳光模拟器、电池板检测仪、电池板分选机、电池板短路检测仪等产品,服务的客户遍布世界,享誉全球。
红外光谱仪 Nicolet IS50  
红外光谱仪 Nicolet IS50
Thermo Scientific Nicolet iS50配有专业化的附件和集成的分析软件,能够提供一个真正一体化的材料分析平台,帮助实验室工作人员以前所未有的轻松方式来应对在分析领域所遇到的挑战。 Nicolet iS50傅立叶变换红外(FT-IR)光谱仪高度灵活的系统可从简单的FT-IR光谱仪升级为全自动多光谱系统,该系统可获取从远红外至可见光的光谱。用户可一键起用全新ATR、拉曼和近红外模块,而无需手工改变系统组件。 在您的分析实验室中,快速、方便的工作流程是必不可少的,Thermo
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