光伏薄膜(半导体)材料测试

飞秒瞬态吸收光谱仪

飞秒瞬态吸收光谱仪;瞬渺瞬态吸收光谱仪能适应瞬态吸收测量最广泛的范围。它具有多样的模块设计来允许选择“泵浦”和“探测”脉冲和在透射与反射二种操作模式上轻松地互换。Standalone ａnd Lab ViewTM设计紧凑,占用珍贵的桌面空间小，具有良好的稳定性、自动化操作。泵浦源紧凑、无缝覆盖、宽广调谐。

CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统

荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs，可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因，如：烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净，发射层是否平整均匀，电极是否有虚印、断线等等

工业级飞秒激光微加工系统

工业级飞秒激光微加工系统这套飞秒激光微加工系统专业为工业微加工研究和生产而研发的成熟的超快激光微加工系统，可用于飞秒激光打孔,飞秒激光蚀刻,飞秒激光多光子聚合,具有非常绝佳的可靠性和超高的加工速度。

太阳能电池激光加工系统

太阳能电池激光加工系统这套太阳能电池飞秒激光加工系统是全球第一款真正意义上的工业级太能电池加工系统,设计要求达到了3MW/a的生产能力，配备一流的紫外飞秒激光和纳秒红外激光，加工效果是目前激光微细加工领域效果最好的光源

科研级飞秒激光微加工系统

科研级飞秒激光微加工系统这款科研级飞秒激光加工系统满足了科研人员的诸多应用，它可以直接安装到光学平台上，大大节省实验时间，并能够快速培训新操作人员。它是飞秒激光微加工实验的不二选择。

薄膜测厚仪（Thin Film Measurement Systems）

大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量：氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、半导体化合物(AlGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene, 聚甲基丙烯酸甲酯, 聚酰胺), 薄金属薄膜等。

太阳能电池数片机

太阳能电池数片机 1. 太阳电池之厚度 : 160~350μm 2. 太阳电池之外形尺寸规格 : 100×100 mm ~ 210×210 mm之方形或圆形太阳电池(更大尺寸或特殊规格亦可，请另洽本公司) 3. 单次最大数片量 : 150 片 (可扩充至250片，请另洽本公司) b. 数片速度(250片) : 1 秒 c. 自动移载时间 < 6秒 d. 尺寸重量 :

3S探针台手动探针台自动探针台

3S探针台：3S提供多种用途探针台，包括：晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台）、霍尔效应探针台、客户订制探针台；提供探针台部件，包括：长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆；已有探针台的升级

太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN（帕山）太阳能电池检测仪

瑞士PASAN公司是太阳能电池板及电池组件测试的全球领导者，隶属于瑞士3S太阳能集团，多年来致力于高端太阳能电池板及电池组件测试设备的研发和生产，凭借集团强大的技术实力，为客户提供阳光模拟器、电池板检测仪、电池板分选机、电池板短路检测仪等产品，服务的客户遍布世界，享誉全球。

太阳能模拟器

QuickSun 120CA是一种多功能电池的质量控制和开发应用太阳能模拟器。它在一个单一的flash里面评价标准IV-特性。随着发光衰减电池分析方法（IDCAM）选项，系统还可以测量和评价两个二极管等效电路参数，提供了前所未有的物理学的基本电池的科学信息。

二次离子质谱仪

二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。

霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助

红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。国内主要的大厂都有使

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor, Power Convert Efficiency 采用KEITHLEY Source Meter 可加配任意品牌之太阳光模拟器

非接触电阻率测试仪

JX2008硅材料综合测试仪

JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

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