光伏薄膜(半导体)材料测试

ResMap 468-SMIF

ResMap 468-SMIF 468SMIF •200mm wafer SMIF •Dual or quad probe changer •Mini-environment •Stand-alone system •Wide variety of mapping patterns

Thermo Scientific Nicolet iS50配有专业化的附件和集成的分析软件，能够提供一个真正一体化的材料分析平台,帮助实验室工作人员以前所未有的轻松方式来应对在分析领域所遇到的挑战。 Nicolet iS50傅立叶变换红外（FT-IR）光谱仪高度灵活的系统可从简单的FT-IR光谱仪升级为全自动多光谱系统,该系统可获取从远红外至可见光的光谱。用户可一键起用全新ATR、拉曼和近红外模块,而无需手工改变系统组件。在您的分析实验室中，快速、方便的工作流程是必不可少的，Thermo

变温霍尔效应测试仪Hall8686

台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳

光伏用正置金相显微镜

光伏用正置金相显微镜;工业金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其超强性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，可观察较厚的标本。　稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。

R9000硅晶电池片反射率仪

R9000硅晶电池片反射率仪太阳能领域全自动两维扫描反射率仪通过反射率测量进行绒化控制通过颜色和厚度测量进行减反射膜控制

晶圆/材料厚度弯曲度量测系统

晶圓/材料厚度彎曲度量測系統晶圆/材料厚度弯曲度量测系统

超声扫描显微镜

超声扫描显微镜:高端的自动浸泡和非浸泡式扫描方法的SAM系列扫描显微镜

光伏检测显微镜

光伏检测显微镜:随着多晶硅，硅片，太阳能电池片工艺的不断发展与提高，光伏产业对硅片及电池片质量的检测要求越来越高。本仪器专门用于对硅片以及太阳能电池片的显微质量检测，检测结果快速直观准确。 ■ 对于硅片的错位、层错、划痕、崩边等缺陷进行检测； ■ 对硅片的杂质、残留物成分进行分析； ■ 太阳能电池片的制绒质量检测、柵线尺寸精确测量、裂片、污染等缺陷的检测。

MicronViewer 7290A近红外相机

MicronViewer 7290A近红外相机:MicronViewer 7290A近红外相机特性 • 可连接多种C-mount物镜 • 可选择使用25mm高通, 低通, 带通或中灰滤波片 • 3-position手动或自动调整增益 • 标准视频输出: RS170 (60Hz) • 同步锁相（Gen-lock）输入 • 高性能,氧硫化铅摄像机, 9.5mm×12.7mm成像探测器