台阶仪ET200/台阶仪日本KOSAKA 台阶仪ET200:KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析,包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石(钻石)****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。 | |
太阳能电池IV特性测量系统太阳能电池IV特性测量系统 | |
非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems | |
SOLAR 辐照度仪SOLAR 辐照度仪 | |
Photoluminescence(PL)Photoluminescence (PL) PL2011是瞬渺光电研发提供的一种灵活的研发和特征分析系统。 该系统具有灵活的手动负载样品平台,可以用于原切割晶圆,部分或整块地加工电池 和 有选择地检测 块状物或部分组件单元 。 | |
WAFER PROFILER CVP21WAFER PROFILER CVP21 The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production. This ECV Profiler | |