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分类名称: CDE四探针
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ResMap 463-OC  
ResMap 463-OC
ResMap 463-OC463-OC•300mm wafer auto load ◦200mm, 150mm options◦Manual load any size•Dual or quad probe changer•Stand-alone system•Wide variety of mapping patterns
ResMap 463-FOUP  
ResMap 463-FOUP
ResMap 463-FOUP463FOUP 300mm wafer FOUPDual or quad probe changerAdaptor for 300mm & 200mm cassetteStand-alone systemMini-environment
ResMap 168  
ResMap 168
ResMap 168168•Auto- loading cassette ◦4" - 8" wafer auto load◦2" - 8" wafer manual load•Table top model•Fast measurement time•Wide variety of mapping patterns
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)  
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统(电阻率,面电阻)
CDE ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178) 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
CDE ResMap Model 468  
CDE ResMap Model 468
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC  
CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
ResMap 273  
ResMap 273
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
半导体行业专用CDE ResMap 四点探针  
半导体行业专用CDE ResMap 四点探针
CDE ResMap–CDE 公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺,以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控,既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的
光伏测试专用美国ResMap四点探针  
光伏测试专用美国ResMap四点探针
光伏测试专用美国ResMap四点探针针:CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现 性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可
Jandel通用型四探针测试仪  4探针测试系统(4 point probe measurement system)  
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统(4 point probe measurement system)
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪  
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪 这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化,可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。 在点击地图后将探头导航到所需位置后,可以重新测量单点。
接触电阻测试仪  
接触电阻测试仪
接触电阻率等等 这款紧凑型仪器测量成品太阳能电池的接触电阻率,手指线电阻,手指宽度和手指高度,或者测试结构。 通过在所有轴上电动化,可以通过按一个按钮来创建所有这些方法的地图。 用于测量薄扩散层的薄层电阻和晶圆电阻率的四点探头,使得TLM-SCAN +成为一种低成本,快速,高质量的四点探针贴图仪。
ResMap 468-SMIF  
ResMap 468-SMIF
ResMap 468-SMIF 468SMIF •200mm wafer SMIF •Dual or quad probe changer •Mini-environment •Stand-alone system •Wide variety of mapping patterns