四探针四点探针 cde 四探针四点探针|电阻率|面电阻

ResMap 463-OC

ResMap 463-OC463-OC•300mm wafer auto load ◦200mm, 150mm options◦Manual load any size•Dual or quad probe changer•Stand-alone system•Wide variety of mapping patterns

ResMap 463-FOUP

ResMap 463-FOUP463FOUP 300mm wafer FOUPDual or quad probe changerAdaptor for 300mm & 200mm cassetteStand-alone systemMini-environment

ResMap 168

ResMap 168168•Auto- loading cassette ◦4" - 8" wafer auto load◦2" - 8" wafer manual load•Table top model•Fast measurement time•Wide variety of mapping patterns

CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）

CDE　ResMap–CDE CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

CDE ResMap Model 468

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 463-FOUP and 463-OC是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

ResMap 273

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

半导体行业专用CDE ResMap 四点探针

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

光伏测试专用美国ResMap四点探针针：CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可

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