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分类名称: CDE四探针
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Four-point-probe mapping with handling system  
Four-point-probe mapping with handling system
Four-point-probe mapping with handling system This off-line instrument is a sheet resistance mapper for the automatic measurement of a stack of more than 100 wafers. The handling time is around 10 seconds, the supported wafer size is between 70 x 70 mm a
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪  
四探针 四点探针 四探针测试仪 四探针太阳能硅片电阻率测试仪
这款紧凑型仪器在所有轴上均可自动化,可在不到4分钟内创建100点的薄层电阻和晶圆电阻率映射。 在点击地图后将探头导航到所需位置后,可以重新测量单点。