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品牌: SENTECH(1)
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世界级高精度光谱椭偏仪  
世界级高精度光谱椭偏仪
Angstrom Advanced Inc 是一家专业研发、生产多种不同规格型号的椭偏仪的美国公司,其产品在全球的占有量处于领先地位。在其产品家族里包括:单波长、多波长(波长范围可达UV, VIS,NIR和 IR)
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Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试  
Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试
美国Filmetrics光学膜厚测量仪,利用反射干涉的原理进行无损测量,可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率,测量迅速,操作简单,界面友好,是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线,波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的,透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50
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推荐SENTECH椭偏仪SE400测光伏电池片  
推荐SENTECH椭偏仪SE400测光伏电池片
SENTECH椭偏仪SE400:SE 400adv , SE 500adv -激光椭偏仪,多角度入射,先进的硬件和软件能够对薄膜厚度和光学常数进行最精确的测量,可分析单层膜和多层膜。
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