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 | Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50 |
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 | 推荐SENTECH椭偏仪SE400测光伏电池片SENTECH椭偏仪SE400：SE 400adv , SE 500adv -激光椭偏仪，多角度入射，先进的硬件和软件能够对薄膜厚度和光学常数进行最精确的测量，可分析单层膜和多层膜。 |
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