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 | 科研级飞秒激光微加工系统科研级飞秒激光微加工系统 这款科研级飞秒激光加工系统满足了科研人员的诸多应用，它可以直接安装到光学平台上，大大节省实验时间，并能够快速培训新操作人员。它是飞秒激光微加工实验的不二选择。 | |
 | 检测太阳能电池缺陷的EL（电致发光）图像检测检测太阳能电池缺陷的EL（电致发光）图像检测 | |
 | 太阳能电池专用红外热像仪Infrared Thermal imager太阳能电池专用红外热像仪Infrared Thermal imager | |
 | SOLAR 辐照度仪SOLAR 辐照度仪 | |
 | 检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机 | |
 | 太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN（帕山）太阳能电池检测仪瑞士PASAN公司是太阳能电池板及电池组件测试的全球领导者，隶属于瑞士3S太阳能集团，多年来致力于高端太阳能电池板及电池组件测试设备的研发和生产，凭借集团强大的技术实力，为客户提供阳光模拟器、电池板检测仪、电池板分选机、电池板短路检测仪等产品，服务的客户遍布世界，享誉全球。 | |
 | JX2008硅材料综合测试仪JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。 | |
 | 红外热像仪检测光伏组件/单片领域的成功应用红外热像仪根据多年红外产品的开发经验，综合了世界上各种先进红外热像仪产品的优点，最新研制的一款集红外、可见光、激光指示等功能于一身的高端工业检测型红外热像仪。 HY-G90除了自身具有完备的分析功能以外，也可通过PC卡将所存储的图像倒入计算机软件进行更深一步的分析。而且，该软件还可以通过选配的RS232以及USB2.0借口实现热像仪与计算机之间的直接连接，进行计算机遥控与图像高速传输。 HY-G90红外热像仪的外观设计在符合人体工程学的基础上，更增加了顶置的可拆卸遥控液晶屏，它不仅外型美观，而且顶置液晶屏 | |
 | 太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor, Power Convert Efficiency 采用KEITHLEY Source Meter 可加配任意品牌之太阳光模拟器 | |
 | 3S探针台 手动探针台 自动探针台3S探针台：3S提供多种用途探针台，包括：晶圆探针台、平板(LCD/OLED)探针台、RF探针台、LD/PD探针台、高低温探针台、表面电阻率探针台(四探针台）、霍尔效应探针台、客户订制探针台； 提供探针台部件，包括：长工作距离显微镜、防震桌、屏蔽箱、探针座及各种探针、高温卡盘、探针卡、RF探头、适配器、线缆； 已有探针台的升级 | |
 | 红外硅锭缺陷检测仪红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使 | |
 | 霍尔效应测试仪霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助 | |
 | PN型号测试笔PN型号测试笔 | |
 | 变温霍尔效应测试仪Hall8686台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳 | |
 | 二次离子质谱仪二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。 | |
 | 太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200 用于绒面电池的绒面形貌观察 | |
 | 薄膜测厚仪（Thin Film Measurement Systems）大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量： 氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、半导体化合物(AlGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene, 聚甲基丙烯酸甲酯, 聚酰胺), 薄金属薄膜等。 | |
 | 薄膜应力测量系统世界顶级薄膜应力测量系统，MOS技术荣获美国专利！曾荣获2008 Innovation of the Year Awardee！ | |
