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 | Photoluminescence(PL)Photoluminescence (PL) PL2011是瞬渺光电研发提供的一种灵活的研发和特征分析系统。 该系统具有灵活的手动负载样品平台，可以用于原切割晶圆，部分或整块地加工电池 和 有选择地检测 块状物或部分组件单元 。 |
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 | 检测太阳能电池缺陷的EL（电致发光）图像检测检测太阳能电池缺陷的EL（电致发光）图像检测 |
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 | 太阳能电池专用红外热像仪Infrared Thermal imager太阳能电池专用红外热像仪Infrared Thermal imager |
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 | SOLAR 辐照度仪SOLAR 辐照度仪 |
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| | 检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机 |
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 | 专业供应PMA2110 UVA 探测器-- |
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 | 供应JX2008硅材料综合测试仪 |
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 | 红外热像仪检测光伏组件/单片领域的成功应用红外热像仪根据多年红外产品的开发经验，综合了世界上各种先进红外热像仪产品的优点，最新研制的一款集红外、可见光、激光指示等功能于一身的高端工业检测型红外热像仪。 HY-G90除了自身具有完备的分析功能以外，也可通过PC卡将所存储的图像倒入计算机软件进行更深一步的分析。而且，该软件还可以通过选配的RS232以及USB2.0借口实现热像仪与计算机之间的直接连接，进行计算机遥控与图像高速传输。 HY-G90红外热像仪的外观设计在符合人体工程学的基础上，更增加了顶置的可拆卸遥控液晶屏，它不仅外型美观，而且顶置液晶屏 |
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 | SOLAR PMA2145/2144/2100 |
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 | 非接触电阻率测试仪 |
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| | 红外硅锭缺陷检测仪红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。 如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。 国内主要的大厂都有使 |
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| | PN型号测试笔PN型号测试笔 |
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| | 脉冲激光沉积（Pulsed Laser Deposition，PLD）脉冲激光沉积（Pulsed Laser Deposition，PLD） |
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| | 二次离子质谱仪二次离子质谱仪，是最前沿的表面分析技术。二次离子质谱仪揭示了真正表面和近表面原子层的化学组成，其信息量也远远超过了简单的元素分析，可以用于鉴定有机成分的分子结构。二次离子质谱仪广泛应用于微电子技术、化学技术、纳米技术以及生命科学之中，它可以在数秒内对表面的局部区域进行扫描和分析，生成一个表面成分图。 |
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 | 太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200太阳能电池片2D/3D形貌仪 DCM200 用于绒面电池的绒面形貌观察 |
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 | 太阳能电池数片机太阳能电池数片机 1. 太阳电池之厚度 : 160~350μm 2. 太阳电池之外形尺寸规格 : 100×100 mm ~ 210×210 mm之方形或圆形太阳电池(更大尺寸或特殊规格亦可，请另洽本公司) 3. 单次最大数片量 : 150 片 (可扩充至250片，请另洽本公司) b. 数片速度(250片) : 1 秒 c. 自动移载时间 < 6秒 d. 尺寸重量 : |
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