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 | 少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。 | |
 | 少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅（锭或块）的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数，这个工具直接获得长硅的质量参数。 | |
 | 供应光伏配件，Berger测试氙灯等供应光伏配件，Berger测试氙灯等 | |
 | Ushio 测试灯UXL-10S，UXL-16SUshio 测试灯UXL-10S，UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 ，产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ，球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在：太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片 | |
 | 少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件）少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件） | |
 | 少子寿命测量仪BLS-测试硅棒少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。 | |
 | suns-Voc测试仪suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线 | |
 | 少子寿命测试仪-WCT-120MX美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。 | |
 | WCT-120TS变温少子寿命测试仪分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪 | |
 | WCT-120PL荧光少子寿命测试仪分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命 | |