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 | 少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。 | |
 | 光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度光伏使用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪（CV测试仪）电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度 | |
 | 太阳能电池量子效率测试系统太阳能电池量子效率测试系统：太阳能电池量子效率测量系统（光谱响应测试系统、IPCE测试系统），广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应，EQE外量子效率，IQE内量子效率，IPCE，相对反射率，绝对反射率，相对透射率，绝对透射率等测量和研究；匹配国际测试标准：IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准；波长范围：300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm | |
| | FastEQE 高速量子效率测试仪Fast的测量速度，单次测量仅需要8秒钟，而传统的单色仪系统需要近8分钟才能完成相 同的测量。 节省时间 节省空间 节省工时 节省成本 测量太阳能电池量子效率的速度比其他任何系统快5900％ 专为太阳能电池的制造研发而制造 | |
| | 便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules | |
 | 非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems非接触式电阻率测试仪 Contactless Resistivity Systems | |
 | 少子寿命测量仪BLS-测试硅棒少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量，除需要有一个测量平面外，对样块 体形无严格要求，可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况，是单晶质量的重要检测项目。 | |
 | 太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN（帕山）太阳能电池检测仪瑞士PASAN公司是太阳能电池板及电池组件测试的全球领导者，隶属于瑞士3S太阳能集团，多年来致力于高端太阳能电池板及电池组件测试设备的研发和生产，凭借集团强大的技术实力，为客户提供阳光模拟器、电池板检测仪、电池板分选机、电池板短路检测仪等产品，服务的客户遍布世界，享誉全球。 | |
 | JX2008硅材料综合测试仪JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。 | |
 | Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system)Jandel通用型四探针测试仪 4探针测试系统（4 point probe measurement system) | |
 | 光伏测试专用美国ResMap四点探针光伏测试专用美国ResMap四点探针针：CDE ResMap的特点如简述如下: * 高速稳定及专利自动决定范围量测与传送,THROUGHPUT高 * 数字方式及每点高达4000笔数据搜集,表现良好重复性及再现 性 * Windows 操作接口及软件操作简单 * 新制程表现佳(铜制程低电阻率1.67mΩ-cm及Implant高电阻2KΩ/□以上,皆可达成高精确度及重复性) * 体积小,占无尘室面积少 * 校正简单,且校正周期长 * 可配合客户需求,增强功能与适用性 * 300mm 机种可 | |
 | suns-Voc测试仪suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化，主要测试IV曲线 | |
 | 霍尔效应测试仪霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助 | |
| | PN型号测试笔PN型号测试笔 | |
 | 变温霍尔效应测试仪Hall8686台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳 | |
 | Filmetrics光学膜厚测量仪_电池片厚度测试美国Filmetrics光学膜厚测量仪，利用反射干涉的原理进行无损测量，可测量薄膜厚度及光学常数。测量精度达到埃级的分辩率，测量迅速，操作简单，界面友好，是目前市场上最具性价比的膜厚测量仪设备。设备光谱测量范围从近红外到紫外线，波长范围从200nm到1700nm可选。凡是光滑的，透明或半透明的和所有半导体膜层都可以测量。F20、F30、F40、F50 | |
 | I-V 曲线测试仪MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器，可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V～ 1000V ，适用于高电压PV阵列。 | |
 | EKO MP-160 I-V曲线测试仪EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。 | |
 | PVE300太阳能电池量子效率测试仪外量子效率External Quantum Efficiency 太阳能电池（光电材料）光谱响应测试，或称量子效率QE（Quantum Efficiency）测试，或光电转化效率IPCE (Monochromatic Incident Photon-to-Electron Conversion Efficiency) 测试等，广义来说，就是测量太阳能电池（光电材料）的光电特性在不同波长光照条件下的数值，所谓光电特性包括：光生电流、光导等。 | |
