浏览过的商品

总共找到54个产品
3/3 已经是最后一页
图文列表 橱窗 文字
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统  
CoreScan荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统
荷兰SunLab Corescan、Sherescan测试系统. 通过CoreScan扫描Rs,可以得到整个电池片的串联电阻分布图。从而判断影响此因素的原因,如:烧结温度过高过低、磷硅玻璃是否去除干净,发射层是否平整均匀,电极是否有虚印、断线等等
太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN(帕山)太阳能电池检测仪  
太阳能电池板及电池组件测试仪---瑞士PASAN(帕山)太阳能电池检测仪
瑞士PASAN公司是太阳能电池板及电池组件测试的全球领导者,隶属于瑞士3S太阳能集团,多年来致力于高端太阳能电池板及电池组件测试设备的研发和生产,凭借集团强大的技术实力,为客户提供阳光模拟器、电池板检测仪、电池板分选机、电池板短路检测仪等产品,服务的客户遍布世界,享誉全球。
I-V 曲线测试仪  
I-V 曲线测试仪
MP-170是用于测量I-V曲线的先进仪器,可评估太阳能电池组件和阵列的性能。测量范围可从10W光伏组件至 10kW 光伏发电系统。 MP-170对电压的测量范围从10V~ 1000V ,适用于高电压PV阵列。
EKO MP-160 I-V曲线测试仪  
EKO MP-160 I-V曲线测试仪
EKO MP-160 MP-160对太阳模拟器室内评测和室外自然光评测等应用都有出色表现 。MP-160能够完成对大面积电池测量、化合物电池、染料电池等的高精度I-V曲线测量。
霍尔效应测试仪  
霍尔效应测试仪
霍尔效应测试仪:主要用于量测电子材料之重要特性参数,如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等,薄膜或体材料均可,其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外,它也可应用于LED磊晶层的质量判定,也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成,此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助
JX2008硅材料综合测试仪  
JX2008硅材料综合测试仪
JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置,它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率,适用于半导体及太阳能行业的筛选。
少子寿命测试仪电源配件Spare flash parts for lifetime test system: suggested for industrial use of instrument in the critical path.  
少子寿命测试仪电源配件Spare flash parts for lifetime test system: suggested for industrial use of instrument in the critical path.
少子寿命测试仪配件Spare flash parts for lifetime test system: suggested for industrial use of instrument in the critical path.
少子寿命测试仪电源配件适用WCT120  
少子寿命测试仪电源配件适用WCT120
少子寿命测试仪配件Spare flash parts for lifetime test system: suggested for industrial use of instrument in the critical path.
少子寿命测试仪电源配件适用Suns-VOC  
少子寿命测试仪电源配件适用Suns-VOC
少子寿命测试仪配件Spare flash parts for lifetime test system: suggested for industrial use of instrument in the critical path.
少子寿命测试仪电源配件适用BCT400  
少子寿命测试仪电源配件适用BCT400
少子寿命测试仪配件Spare flash parts for lifetime test system: suggested for industrial use of instrument in the critical path.
1 2 3 已经是最后一页