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少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线,可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。
科研级飞秒激光微加工系统  
科研级飞秒激光微加工系统
科研级飞秒激光微加工系统 这款科研级飞秒激光加工系统满足了科研人员的诸多应用,它可以直接安装到光学平台上,大大节省实验时间,并能够快速培训新操作人员。它是飞秒激光微加工实验的不二选择。
光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度  
光伏适用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
光伏使用电化学ECV 掺杂浓度检测 电化学CV分布仪(CV测试仪)电化学CV剖面分析仪 电化学CV载流子浓度
FPS-300闪光电源  
FPS-300闪光电源
The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash head.
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机  
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机
太阳能板检测专用数码相机-太阳能电池检测相机,高灵敏致冷CCD相机
WAFER PROFILER CVP21  
WAFER PROFILER CVP21
WAFER PROFILER CVP21 The Wafer Profiler CVP21 is a handy tool to measure doping profiles in semiconductor layers by Electrochemical Capacitance Voltage Profiling (ECV-Profiling, CV-Profiling) in semiconductor research or production. This ECV Profiler
Photoluminescence(PL)  
Photoluminescence(PL)
Photoluminescence (PL) PL2011是瞬渺光电研发提供的一种灵活的研发和特征分析系统。 该系统具有灵活的手动负载样品平台,可以用于原切割晶圆,部分或整块地加工电池 和 有选择地检测 块状物或部分组件单元 。
太阳能电池量子效率测试系统  
太阳能电池量子效率测试系统
太阳能电池量子效率测试系统:太阳能电池量子效率测量系统(光谱响应测试系统、IPCE测试系统),广泛应用于各种太阳能电池包括单结、多结薄膜太阳能电池的SR光谱响应,EQE外量子效率,IQE内量子效率,IPCE,相对反射率,绝对反射率,相对透射率,绝对透射率等测量和研究;匹配国际测试标准:IEC 60904-8, & ASTM E1021-(2001)测试标准;波长范围:300nm~1100nm, 可扩展至1800 nm
FastEQE 高速量子效率测试仪  
FastEQE 高速量子效率测试仪
Fast的测量速度,单次测量仅需要8秒钟,而传统的单色仪系统需要近8分钟才能完成相 同的测量。 节省时间 节省空间 节省工时 节省成本 测量太阳能电池量子效率的速度比其他任何系统快5900% 专为太阳能电池的制造研发而制造
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)  
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL)
电致发光影像分析(Electroluminescence, EL):大小裂痕(large and microcracks)、缺损(holes)、杂质(inclusion)、扩散深度(diffusion length)及接触或传导不良区域
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