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 | 椭圆偏光膜厚测量仪（自动）椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。 | |
 | 反射式膜厚测量仪FPD-LCD、TFT、OLED（有机EL） 半导体、复合半导体 矽半导体、半导体镭射、强诱电、介电常数材料资料储存 -DVD、磁头薄膜、磁性材料 光学材料 -滤光片、抗反射膜 平面显示器 -液晶显示器、膜膜电晶体、OLED 薄膜-AR膜 其他-建筑用材料 | |
 | 量子效率测量系统即时性內部量子效率测量。 大幅降低紫外光領域的迷光现象，对高量子效率的样品展現出优异的测量性能。 搭配低迷光对应光谱仪，实现高感度、高稳定性的光谱解析。 激发光源采用光栅搭配滤光镜分光、可任意选择单一波长。(选配) | |
 | 反射率测试仪反射率测试仪 | |
 | LED光色电检查系统（半球）HalfMoon为大塚电子株式会社的登记商标。 积分半球构造： * 半球状的积分球利用镜面的反射虚象，构成对称的全球状的积分球。 * 光源点灯器设置于积分球外部，可搭配散热器散热。 | |
 | 薄膜应力&晶圆弯曲（翘曲）测试系统薄膜应力&晶圆弯曲（翘曲）测试系统 Film Stress & Wafer Bow Measurement System | |
 | 红外光谱仪 Nicolet IS50Thermo Scientific Nicolet iS50配有专业化的附件和集成的分析软件，能够提供一个真正一体化的材料分析平台,帮助实验室工作人员以前所未有的轻松方式来应对在分析领域所遇到的挑战。 Nicolet iS50傅立叶变换红外（FT-IR）光谱仪高度灵活的系统可从简单的FT-IR光谱仪升级为全自动多光谱系统,该系统可获取从远红外至可见光的光谱。用户可一键起用全新ATR、拉曼和近红外模块,而无需手工改变系统组件。 在您的分析实验室中，快速、方便的工作流程是必不可少的，Thermo | |
 | 变温霍尔效应测试仪Hall8686台湾SWIN公司生产的霍尔效应测试仪 (Hall Effect Measurement System)是性能稳定、功能强大、性价比高的霍尔效应仪，在国内高校、研究所及半导体业界拥有广泛的用户和知名度。本仪器轻巧方便，易于携带，主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。 除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳 | |
 | In-Line PECVD system for HIT junctions 用于制备高效异质结太阳电池的直线型等离子体化学气相沉积系统In-Line PECVD system for HIT junctions 用于制备高效异质结太阳电池的直线型等离子体化学气相沉积系统 | |
 | Silicon Nitride Coating Systems for Multi-crystalline Silicon Solar CellsSilicon Nitride Coating Systems for Multi-crystalline Silicon Solar Cells | |
 | Deposition SystemsDeposition Systems | |
 | MProbe Vis 微点薄膜厚度光学测量仪大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量：氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene,PMMA,聚酰胺)，薄金属薄膜等。 | |
 | 光伏用正置金相显微镜光伏用正置金相显微镜;工业金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其超强性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，可观察较厚的标本。 稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。 | |
 | Sinton Instrument 仪器维修校准服务Sinton Instrument 仪器维修或校准服务 | |
 | R9000硅晶电池片反射率仪R9000硅晶电池片反射率仪太阳能领域全自动两维扫描反射率仪 通过反射率测量进行绒化控制 通过颜色和厚度测量进行减反射膜控制 | |
| | 晶圆/材料厚度弯曲度量测系统晶圓/材料厚度彎曲度量測系統 晶圆/材料厚度弯曲度量测系统 | |
| | 超声扫描显微镜超声扫描显微镜:高端的自动浸泡和非浸泡式扫描方法的SAM系列扫描显微镜 | |
 | 光伏检测显微镜光伏检测显微镜:随着多晶硅，硅片，太阳能电池片工艺的不断发展与提高，光伏产业对硅片及电池片质量的检测要求越来越高。本仪器专门用于对硅片以及太阳能电池片的显微质量检测，检测结果快速直观准确。 ■ 对于硅片的错位、层错、划痕、崩边等缺陷进行检测； ■ 对硅片的杂质、残留物成分进行分析； ■ 太阳能电池片的制绒质量检测、柵线尺寸精确测量、裂片、污染等缺陷的检测。 | |
