__光伏研发网-sinton少子寿命测试仪-WEP电化学ECV-CDE四探针接触电阻测试仪 PVtools wct-120 CVP21 TLM

PMA 2145 Class I 日射强度计

PMA2145是一款ISO认定的一级日射强度计。该日射强度计基于热电堆技术，确保了宽光谱灵敏度以及长期使用稳定性和光谱平坦性。PMA2145有64个热电偶结传感元件组成。传感元件镀有基于非有机镀膜技术的高稳定碳，从而保证了卓越的光谱吸收以及长期稳定性。传感元件外层是两个同心Schott K5 半球。

扫描光谱仪

SIR扫描光谱仪系列为你提供来自持久稳定探测仪器的、基于光纤的光谱数据。这些探测器系统经受住了化学处理应用的考验，提供了精确的可重复性的测试结果。

亮度探测器

PMA2133是一款符合CIE适光光谱响应的便携式亮度探测器。该探测器的光谱响应类似于人眼对适光区域的视觉响应。

闪光探测器

闪光灯的峰值强度远高于连续光源。PMA2135探测器捕获峰值强度并每五秒钟在PMA2100上显示。除了峰值强度，PMA2135积分并保存一个单脉冲剂量。辐射峰值强度以mW/cm2 或 W/cm2显示。全刻度由客户在订货时指定。剂量全刻度为mJ/cm2 或 J/cm2。光电探测器有0.474平方英寸的有效面积。聚四氟乙烯半球明视探测器具有极好的余弦响应，这就可以实现对点或长光源的精确测量。

The FCT-400 has been designed to have the highest possible accuracy for measuring high-efficiency solar cells. This is done using proprietary Voltage Modulation to neutralize the capacitive effects in I-V measurements. The Sinton analysis packa

FMT-350

The FMT interface displays both I-V and Suns-Voc data. This permits direct comparisons of module data to cell data and quick identification of series resistance, shunting, and cell mismatch.

ResMap 468-SMIF

ResMap 468-SMIF 468SMIF •200mm wafer SMIF •Dual or quad probe changer •Mini-environment •Stand-alone system •Wide variety of mapping patterns

光伏测试用日光模拟器

OLED元件光电特性检测设备

关键性的光谱仪除采用高感度之高感度分光光谱仪(MCPD-7000)以外，亦可搭配新产品"高感度分光放射辉度计"及其相关套件达到更深度的检测能力。驱动亮灯用的直流电源，最适合作为辉度、色度、LIV测量、发光效率、外部量子效率等OLED元件光学特性之综合性评估。

平面显示器（FPD）光电特性检测仪

全自动检查FPD模组的显示性能及LCD背光模组的亮灯性能。检测器除使用本公司所提供之"高感度分光放射辉度计"以外，亦可搭配其它品牌的辉度计。具备室温下，与0～50℃恒温槽内等两种测量规格。支持各种市售的图形产生器(Pattern generator)。可视测量样品自由编辑参数，如检查项目、检查条件、判定条件等，在编辑完成后，将进行全自动检查。检查结果可输出成报告格式，自动存档。

液晶（LCD）面板、背光模组光电综合检查仪

可依据所测量的光电特性、温度特性评价LCD面板显示性能。可在-35℃～90℃的环境下，支援视角80°的360°视角锥测量(Viewing Cone)。

平面显示器（FPD）大尺寸样品专用测试仪

从规划设计、开发制造、到现场安装调整及教学支援等，皆秉持一贯的品质自行完成。面对市场多元化的需求，以优异的技术、丰富的实绩、安心的售后服务，提供最完善的膜厚解析方案。

液晶层间隙(Cell gap)测量设备

以穿透、半穿透方式测量TFT、STN，以及不同驱动模式的VA、IPS及强诱电性液晶，也支持反射型TFT、STN液晶。视用途，从研发到品管皆有完整对应机种。除检测液晶层间隙(Cell gap)，也可测量液晶面板及液晶材料相位差。椭圆率、方位角等偏光解析，光学轴、色度、穿透、反射光谱等综合性的多功能检测装置。