__光伏研发网-sinton少子寿命测试仪-WEP电化学ECV-CDE四探针接触电阻测试仪 PVtools wct-120 CVP21 TLM

Solar Simulator Uniformity Mapper

Portable I-V Testers for PV Modules

霍尔效应测试仪

霍尔效应测试仪：主要用于量测电子材料之重要特性参数，如载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等，薄膜或体材料均可，其原理主要依据范德堡法则。除了用来判断半导体材料之型态(n或p)以外，它也可应用于LED磊晶层的质量判定，也可以用来判断在HEMT组件中二维电子气是否形成，此未还可以用于太阳能电池片的制程辅助

太阳能电池激光划片机

太阳能电池激光划片机：·应用领域太阳能光伏行业中，单晶硅、多晶硅及非晶硅太阳能电池片和硅片的划片加工。 ·产品特点采用氪灯泵浦（YAG）激光器，采用声光调制系统、数控X-Y运动工作台及步进电机驱动；系统采用国际流行的模块化设计，关键部件均采用进口产品；设备高可靠、高精度、高效率；软件升级至3.0版且安装移机简单方便；高精度一体化恒温循环水冷；长时间运行稳定可靠；

红外硅锭缺陷检测仪：多晶硅铸锭过程中，由于原料，参杂，坩埚及温场控制等诸多原因会造成不同程度的缺陷产生，如：SIC颗粒，隐裂，空洞，微晶等。这些缺陷的存在不能制造合格的多晶硅太阳能电池片，而且对后道切片工艺危害极大。因为SIC硬度极高，会使线据断线。硅裂的存在会使硅片掉落，甚至损坏导轮。如何在不损伤硅块的前提下检测出这些缺陷，理论上有很多方法，如X光透视，超声波检测，红外投射等都是常用的方法，但综合考虑成本，工作环境，劳动保护，工作效率和操作便捷，红外投射的方法最合适。国内主要的大厂都有使

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)

太阳能产业探针台(Solar Cell 量测系统)I-V /C-V Curve, Isc, Voc, Pmax, Imax, Vmax, RS, Fill Factor, Power Convert Efficiency 采用KEITHLEY Source Meter 可加配任意品牌之太阳光模拟器

光束诱导电流检测系统 LBIC

光束诱导电流检测系统 LBIC：LBIC mapping system( Light-Beam Induced Current，光束诱导电流检测系统)------是一种高分辨、非直接接触的分析手段，可以表征太阳能电池的几何结构信息、少子扩散长度等参数，以及量子效率，反射率分布表征，为太阳能电池优化结构提供参考依据，广泛应用到单晶硅、多晶硅、非晶硅、碲化镉、CIGS等各种传统或新型的太阳能电池的研究和生产。为改进工艺提供有效的参考依据。

非接触电阻率测试仪

PROVA-200太阳能电池分析仪

PROVA-200太阳能电池分析仪：单晶片I-V特性曲线测试可找出太阳能模组最大功率的工作点 (Vmaxp, Imaxp) 量测最大功率时 (Pmax) 的最大电压 (Vmaxp) 最大电流 (Imaxp) 量测开路电压 (Vopen) 与短路电流 (Ishort) 移动指标可显示I-V特性曲线每一点的特性值可选购携带式印表机将图形与特性值直接复制下来在标准光源下可直接显示太阳能电池的转换效率η(％) 与FF值可以自动扫瞄或单点测试

台式太阳能电池缺陷检测仪

便携式太阳能电池缺陷检测仪

JX2008硅材料综合测试仪

JX2008电阻率及型号测试仪是运用四探针测量原理的多功能综合测试装置，它可以测量片状、块状半导体材料的径向和轴向电阻率，适用于半导体及太阳能行业的筛选。

专业供应PMA2110 UVA 探测器--

I-V400专业光伏（太阳能）模组I-V特性分析仪

台阶仪ET200/台阶仪

日本KOSAKA 台阶仪ET200：KOSAKA ET 200基于Windows XP操作系统为多种不同表面提供全面的形貌分析，包括半导体硅片、太阳能硅片、薄膜磁头及磁盘、MEMS、光电子、精加工表面、生物医学器件、薄膜/化学涂层以及平板显示等。使用金刚石（钻石）****接触测量的方式来实现高精度表面形貌分析应用。ET 200能精确可靠地测量出表面台阶形貌、粗糙度、波纹度、磨损度、薄膜应力等多种表面形貌技术参数。

Spectral Response / Quantum Efficiency / IPCE Measurement Systems

太阳能晶片检测

太阳能晶片检测：

太阳能晶片/电池片计数

便携的I - V光伏组件测试仪Portable I-V Testers for PV Modules

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