半导体行业专用CDE ResMap 四点探针

非会员顾客说： 17-09-06 16:19

PN或NP反型外延片测试前需要预处理吗？

管理员[Sinton instruments]回复： 17-11-30 10:56

用四探针是不需要提前处理的

非会员顾客说： 12-05-31 14:47

ResMap178校正方法及用那一種標準器

管理员[admin]回复： 12-06-06 11:27

标准样片以前仪器自校准

非会员顾客说： 11-11-16 18:18

为什么四探针测半导体电阻率时样品要磨成粗糙的表面?

管理员[admin]回复： 11-11-16 18:20

为了使金属探针与半导体表面接触时形成欧姆接触。这是由于粗糙的表面存在很多复合中心，可破坏Schottky势垒的单向导电性，使得探针接触变成为欧姆接触，以便于测量电流和电压。

非会员顾客说： 11-09-27 10:31

cde四点探针应该是最常用的一种测方阻的仪器，而且特别经久耐用，只要在程序里设置好参数，直接运行就行了，它的功能听多的，可以描绘出等高线，计算出标准差等，是一个很好用的仪器，它也是要求有绝缘的衬底

管理员[admin]回复： 11-09-27 12:02

是的，操作非常简单