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CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）

  • 货号：ResMap 178
  • 商品重量：178.000 克(g)
  • 市场价：￥178
  • 销售价：￥178
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CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）的商品咨询

非会员顾客 说： 18-06-19 11:39
四探针法可以测半导体的电阻率，也可以测薄膜的方块电阻，我记得测试原理都一样啊，怎么测出来两个单位不一样的量呢？突然想到这个问题，有点懵，想不明白了~请指教
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管理员[Sinton instruments]回复： 18-06-19 11:40
R=ρL/S R为电阻 ρ为电阻率 如果你测的是薄膜的方块电阻·那得知道薄膜的厚度吧·只有这样才能换算成电导率
非会员顾客 说： 18-01-25 17:32
购买CDE四点探针指南 http://www.cderesmap.com/html/howtobuy/
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管理员[Sinton instruments]回复： 18-02-08 16:48
CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)4探针测试系统（电阻率，面电阻）
非会员顾客 说： 16-01-08 16:05
CDE的四探针如何校准? 1. 设备本身的电路校准(不使用探头校准）：CDE公司提供一整套标准的电阻模块（一般共8块：7块标准电阻从十的负一到十的五次方，另外加一块Leaker) 2. 接上探头用探头测试标准片：一般如果条件允许使用VLSI标片。
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管理员[Sinton instruments]回复： 16-01-26 11:49
CDE的四探针如何校准? 1. 设备本身的电路校准(不使用探头校准）：CDE公司提供一整套标准的电阻模块（一般共8块：7块标准电阻从十的负一到十的五次方，另外加一块Leaker) 2. 接上探头用探头测试标准片：一般如果条件允许使用VLSI标片。
非会员顾客 说： 15-12-10 09:57
http://www.cnfusers.cornell.edu/cnf5_tool.taf?_function=detail&eq_id=38&gtitle=METROLOGY&area=METROLOGY&cacName=CDE%20ResMap%20Resistivity%204%2Dpt%20Probe&labUser=1
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管理员[Sinton instruments]回复： 15-12-10 10:48
非会员顾客 说： 15-12-10 09:54
http://mfc.engr.arizona.edu/Matrix/CDE%20Resmap.html
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非会员顾客 说： 15-05-19 15:43
http://www.simgui.com.cn/pro_48_237.htm
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管理员[Sinton instruments]回复： 15-05-29 16:53
非会员顾客 说： 14-12-19 14:38
CDE 提供自动计算机量测的阻值量测四点探针量测机台。 优点简述如下: 1.自动决定量测范围 2.Dual Configuration消除因探针头与量测面接触之位置误差 3.高throughput 4.提供软件针压测试，最佳化下针条件，同时避免薄片易破裂 5.内建公式，可直接量厚度 6.温度补偿  7.提供针头自动清洁conditioning 功能 8.具双针头切换使用功能 9.体积小，稳定性高   10.与机台结合的整合性Wafer Handler
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管理员[admin]回复： 14-12-24 11:26
CDE 提供自动计算机量测的阻值量测四点探针量测机台。 优点简述如下: 1.自动决定量测范围 2.Dual Configuration消除因探针头与量测面接触之位置误差 3.高throughput 4.提供软件针压测试，最佳化下针条件，同时避免薄片易破裂 5.内建公式，可直接量厚度 6.温度补偿 7.提供针头自动清洁conditioning 功能 8.具双针头切换使用功能 9.体积小，稳定性高 10.与机台结合的整合性Wafer Handler

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