少子寿命测试仪 WCT-120
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少子寿命测试仪 WCT-120

  • 货号：WCT-120
  • 商品重量：1000.000 克(g)
  • 市场价：￥260000
  • 销售价：￥260000
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少子寿命测试仪 WCT-120的商品咨询

非会员顾客 说： 11-11-25 04:29
說明書上只寫一般用1E15,1E14,但是每次測量都要調整嗎?
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管理员[admin]回复： 11-11-28 12:01
是的，一般是需要调整的。
非会员顾客 说： 11-11-13 11:52
WCT120与WT2000测量少子寿命得出的数据是什么样的对应关系？
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管理员[admin]回复： 11-11-16 10:30
WCT120得到的是不同载流子浓度曲线下的少子寿命分布，我们可以标定一个参考位置，一般去最大值的0.85与WT2000来对应.具体请与我们技术人员联系
非会员顾客 说： 11-10-11 13:19
WCT120与WT2000测量少子寿命的机理不同，所以得出的数据不能比较，只能有对应关系。( S4 m+ ?& U/ E) E8 \ 调整方块电阻的方法不妥，应该用其他仪器测硅片的电阻率、厚度，你还需要输入扩散类型、光学常数。这样可以得到正常的方块电阻。
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管理员[admin]回复： 11-10-11 17:49
是的
非会员顾客 说： 11-10-11 13:18
Spec.MCD是指测试少子寿命时的载流子注入水平，一般为最大载流子浓度的85%；9 g! O4 U! ]& f2 J9 p8 t' [ jsc为IV测试时的饱和电流密度，如果你用sunsvoc测试j01/j02时必须要有准确的jsc值；如果仅仅测试voc值，那就不需要jsc值。
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管理员[admin]回复： 11-10-11 17:49
对
非会员顾客 说： 11-07-20 01:57
既然是基于光电导，能否测量成品电池？
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管理员[admin]回复： 11-07-20 10:59
当然可以。
非会员顾客 说： 11-05-04 16:37
少子寿命测试仪,所测的"少子"在物理学上是什么定义?
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管理员[admin]回复： 11-05-04 16:39
少子寿命是半导体材料和器件的重要参数。它直接反映了材料的质量和器件特性。能够准确的得到这个参数,对于半导体器件制造具有重要意义。 　　少子是因电子脱离的原子,多子因电子加入而形成的原子. 　　少子寿命Life Time即少子形成到少子与多子结合的时间
非会员顾客 说： 11-04-21 14:48
交货期多长时间？
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管理员[admin]回复： 11-04-22 11:14
收到付款后10周内
非会员顾客 说： 11-03-30 11:11
询问价格
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管理员[admin]回复： 11-04-08 07:04
请告知您需要测试的样品类型，如硅片，硅块，硅锭等等，发邮件到solar@rayscience.com.我们会在第一时间与您联系。

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