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美国CDE273四探针电阻率/方块电阻测试仪完成安装验收

发布日期:2014-11-12

美国CDE 273四探针电阻率/方块电阻测试仪完成安装验收

20141015号由我公司推荐的美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪产品用于印刷线路板中金属厚度测量.

德国知名企业atotech,在经过慎重比较后最终选择CDE 273用于印刷线路板中金属厚度测量.CDE 273以业内精度高,稳定性,重复性好,赢得用户的认可.

半导体行业领先品牌,服务众多知名半导体工业用户!

半导体行业专用CDE resmap 四点探针

CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)
CDE
提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速,精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力,即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作,双针头切换能使用可支持自动Loader300mm 机台可使用Front End,最多扩充3个量测单元,支持Semi标准接口。

更多详情请访问: http://www.solarrd.com/product-62.html