美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪中标上海交通大学

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美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪中标上海交通大学 

2013年4月9号由我公司推荐的美国CDE四探针电阻率/方块电阻测试仪产品在于其他美国,日本厂家的仪器进行比较之后，认为美国CDE的性能指标优越,最终中标上海交通大学项目。
半导体行业领先品牌，服务众多知名半导体工业用户！

CDE ResMap 四点探针 (ResMap 178)
CDE 提供自动计算机量测的四点探针阻值量测机台。快速，精确与软件控制下针、软件功能可最佳化下针压力，即使薄片量测也不易破裂。自动清针(Probe Conditioning);动作，双针头切换能使用可支持自动Loader，300mm 机台可使用Front End，最多扩充3个量测单元，支持Semi标准接口。

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