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Sinton Instrument

官方站点:http://www.sintoninstruments.com/

Sinton Instrument

Ron Sinton于1992年创办Sinton Instruments,具备30年在硅太阳电池片宝贵检验,包括在1987证实28%高效率的聚光型硅太阳电池,1989年达到一个太阳23%电池转换效率并以Sunpower 公司研发部经理身份移转这些技术成量产制程。自从1992年,Sinton Instruments公司已经成为一个提供创先性量测及检验技术,并用于单晶,多晶硅太阳电池生产优化的领导供应商

硅太阳电池研发及生产的量测与检验方案


-针对SEMI最新制订载子合复寿命量测标准的内含意义及讨论。

-利用载子合复寿命及电阻率量测针对硅锭,硅块进行合格检验及优化分析。

-如何对原生硅片进行生产前合格检验。

-如何优化掺杂扩散制程。

-如何评估并优化选择性射极技术。

-如何利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化

-硅太阳电池片与组件的电流-电压曲线量测。

-如何针对新的生产设备进行合格检验。

Sinton Instrument 产品分类
光伏薄膜(半导体)测试少子寿命测试仪(12)
耗材售后/维修/校准耗材售后/维修/校准(5)
总共找到16个商品  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片  
少子寿命测试仪 WCT-120测试硅片
美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线,可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭  
少子寿命测量仪 BCT-400测试硅锭
少子寿命测量仪BCT-400测试硅锭BCT-400 BCT-400测量系统不需要做表面钝化就能直接测量单晶和多晶硅(锭或块)的少子寿命. 因为少子寿命作为衡量生长和缺陷含量的的最敏感的技术参数,这个工具直接获得长硅的质量参数。
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S  
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S
Ushio 测试灯UXL-10S,UXL-16S日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 ,产品简介:日本USHIO UXL-16S 氙灯 ,球形氙灯 该短弧氙灯主要应用在:太阳能光伏企业的日本进口NPC品牌的太阳能电池片
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)  
少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件)
少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件)
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒  
少子寿命测量仪BLS-测试硅棒
少子寿命测量仪BLS-I 用于硅、锗单晶的少数载流子寿命测量,除需要有一个测量平面外,对样块 体形无严格要求,可测块状和片状单晶寿命。寿命测量可灵敏地反映单晶体 内重金属杂质污染及缺陷存在的情况,是单晶质量的重要检测项目。
suns-Voc测试仪  
suns-Voc测试仪
suns-Voc测试仪:利用Suns-Voc进行浆料与烧结技术优化,主要测试IV曲线
SBS-150 少子寿命  
SBS-150 少子寿命
SBS-150 少子寿命 测量生长块的是获得最终晶圆少子寿命的最好办法.SBS-150体硅少子寿命分析仪对硅锭生长方向上的少子寿命变化特别敏感,能否准确预测切割出的硅片的质量和缺陷状态。
WCT-IL800  
WCT-IL800
快速在线监测。实现了准确监控少子寿命,方块电阻和缺陷密度的情况。
FMT_CCT  
FMT_CCT
这个电池测量系统具有很高精确度,用来测量高效率太阳电池。它用一个专利的频闪技术实现。
FPS-300闪光电源  
FPS-300闪光电源
The FPS-300 is a new flash power supply designed to replace the Quantum power supply stack and flash head.
FCT-400  
FCT-400
The FCT-400 has been designed to have the highest possible accuracy for measuring high-efficiency solar cells. This is done using proprietary Voltage Modulation to neutralize the capacitive effects in I-V measurements. The Sinton analysis packa
FMT-350  
FMT-350
The FMT interface displays both I-V and Suns-Voc data. This permits direct comparisons of module data to cell data and quick identification of series resistance, shunting, and cell mismatch.
WCT-120TS变温少子寿命测试仪  
WCT-120TS变温少子寿命测试仪
分别采用QSSPC方法和变温法得出硅片的少子寿命测试仪
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪  
WCT-120PL荧光少子寿命测试仪
分别采用瞬态光电导和荧光方法测量硅片到太阳能电池半成品或者成品电池的少子寿命
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