__光伏研发网-sinton少子寿命测试仪-WEP电化学ECV-CDE四探针接触电阻测试仪 PVtools wct-120 CVP21 TLM

Spectral quantum efficiency

Spectral quantum efficiency & reflectance

接触电阻率和薄层电阻 TLM-SCAN

接触电阻率等等 TLM-SCAN 多功能太阳电池栅线接触电阻测试仪这款紧凑型仪器测量成品太阳能电池的接触电阻率，手指线电阻，手指宽度和手指高度，或者测试结构。通过在所有轴上电动化，可以通过按一个按钮来创建所有这些方法的地图。用于测量薄扩散层的薄层电阻和晶圆电阻率的四点探头，使得TLM-SCAN +成为一种低成本，快速，高质量的四点探针贴图仪。

TLM-SCAN+ Contact resistivity and sheet resistance

TLM-SCAN+ Contact resistivity and sheet resistance The contact resistance of the front metallization is an important contribution to the total series resistance of screen-printed solar cells. The transfer length method with a suitable test structure is

Four-point-probe mapping with handling system

Four-point-probe mapping with handling system This off-line instrument is a sheet resistance mapper for the automatic measurement of a stack of more than 100 wafers. The handling time is around 10 seconds, the supported wafer size is between 70 x 70 mm a

Hisomet 高精度三次元工具显微镜

Hisomet 高精度三次元工具显微镜 X、Y、Z三轴精密量测，Z轴量测精度可达±1μm光学非接触式，可避免破坏待测物。依客户需求，，搭配量测软体及其他配件。

Four-point-probe mapping with handling system

少子寿命测试仪-WCT-120MX

美国Sinton WCT-120少子寿命测试仪采用了准稳定态光电导(QSSPC)测量方法和分析技术。可灵敏地反映单、多晶硅片的重金属污染及陷阱效应、表面复合效应等缺陷情况。WCT在效率大于20%的超高效太阳能电池(HIT,MWT,EWT,PREL,等等)的研发和生产过程中是一种被广泛选用的检测工具。这种QSSPC测量少子寿命的方法可以在电池生产的中间任意阶段得到一个类似光照IV曲线的开压曲线，可以结合最后的IV曲线对电池制作过程进行数据监控和参数优化等工作。