__光伏研发网-sinton少子寿命测试仪-WEP电化学ECV-CDE四探针接触电阻测试仪 PVtools wct-120 CVP21 TLM

ResMap 463-FOUP

ResMap 463-FOUP463FOUP 300mm wafer FOUPDual or quad probe changerAdaptor for 300mm & 200mm cassetteStand-alone systemMini-environment

CVP21-SCE Saturated Calomel Electrode 参考电极

少子寿命测试仪闪光灯 sinton BLS-1 lifetime(设备易损配件）

少子寿命测试仪闪光灯泡 sinton wct-120 lifetime(设备易损配件）

薄膜测厚仪（Thin Film Measurement Systems）

大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量：氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、半导体化合物(AlGaAs,InGaAs,CdTe,CIGS)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene, 聚甲基丙烯酸甲酯, 聚酰胺), 薄金属薄膜等。

手持式太阳光度计

MICROTOPS II 是一款用于气溶胶光学厚度精确测量的5通道手持式太阳光度计。可以测量和存储5个非连续波长太阳径直辐射。MICROTOPS拥有与其它大型昂贵的仪器一样的精确度。可选的GPS接受器为野外测量提供了方便。用户可以从8个WMO波长滤光器中选择5个或者指定多达5个的定制波长。

CVP21-RL Large sealing ring for CVP21 大密封圈

CDE ResMap Model 468

CDE　ResMap–CDE　公司生产之电阻值测试系统CDE ResMap Model 468 是以四探针的工艺，以配合各半导体成光伏生产厂家进出之生产品质监控，既超卓可靠又简易操作的设备是半导体及光伏生产厂家不可缺少的

AS-Solar5000

AS-Solar5000光源发出的光通过光纤和反射式积分球(InterSphere)在物体表面发生漫反射被特别设计的积分器收集，再通过积分球另外的一个接口送到分光光度计。不管样品表面是绒面还是抛光的，所有的反射光和散射光都会被测量到。整体反射率用来测量制绒后和镀膜后硅片的反射率。通过标准逻辑运算计算出您想要的颜色值xyY等

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）

原子层沉积技术（Atomic Layer Deposition）是一种原子尺度的薄膜制备技术。它可以沉积均匀一致，厚度可控、成分可调的超薄薄膜。随着纳米技术和半导体微电子技术的发展，器件和材料的尺寸要求不断地降低，同时器件结构中的宽深比不断增加，这样就要求所使用材料的厚度降低至十几纳米到几个纳米数量级。因此原子层沉积技术逐渐成为了相关制造领域不可替代的技术。其优势决定了它具有巨大的发展潜力和更加广阔的应用空间。

太阳能电池数片机

太阳能电池数片机 1. 太阳电池之厚度 : 160~350μm 2. 太阳电池之外形尺寸规格 : 100×100 mm ~ 210×210 mm之方形或圆形太阳电池(更大尺寸或特殊规格亦可，请另洽本公司) 3. 单次最大数片量 : 150 片 (可扩充至250片，请另洽本公司) b. 数片速度(250片) : 1 秒 c. 自动移载时间 < 6秒 d. 尺寸重量 :

样品本色三维轮廓仪 3Dx显微镜

样品本色三维轮廓仪:ZETA-20 具备多模式光学技术的样品本色三维非接触式光学轮廓仪,最顶级的3D成像及测试系统（为用户量身打造的表面轮廓测量设备，是表面量测领域的最佳选择） ##细栅线和主栅线的自动测量 ##单晶和多晶硅绒面测量 ##对裸露的和AR涂层的表面清晰成像 ##提供重要的统计数据，如尺寸，高度分布和体表面积比