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订购热线:021-3463-5258 021-3463-5259
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 | 检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机检测晶片瑕疵与电池效率的SWIR摄像机 | |
 | PMA 2143 热电堆PMA2143热电堆可对辐射通量进行测量。它对0.2-50um的辐射比较敏感，并且具备10度的视场角。使得这类仪器具备了光电式探测器的卓越的性能和高精确度。 传感器是一个高品质黑热电堆，确保了整个光谱范围的平坦的光谱响应。热电堆是一款热传感器，对于吸收的所有功率响应。由于与周围环境存在传导以及辐射损失，辐射照度测量很容易受到影响。因此，探测器可以由玻璃窗屏蔽起来，但是光谱范围被限制在0.3-3um。 | |
 | 光伏用正置金相显微镜光伏用正置金相显微镜;工业金相显微镜是针对半导体工业、硅片制造业、电子信息产业、冶金工业需求而开发的。作为高级金相显微镜用户在使用时能够体验其超强性能，可广泛应用于半导体、FPD、电路封装、电路基板、材料、铸件/金属/陶瓷部件、精密模具的检测，可观察较厚的标本。 稳定、高品质的光学系统使成像更清晰，衬度更好。符合人机工程学要求的设计，使您在工作中感到舒适和放松。 | |
 | ResMap 468-SMIFResMap 468-SMIF 468SMIF •200mm wafer SMIF •Dual or quad probe changer •Mini-environment •Stand-alone system •Wide variety of mapping patterns | |
 | PMA 2144 Class II 日射强度计PMA2144是一款ISO标准分类的二级日射强度计。该日射强度计基于热电堆技术，确保了宽光谱灵敏度以及长期使用稳定性。 | |
 | 太阳能晶片/电池片计数太阳能晶片/电池片计数 | |
 | Silicon Nitride Coating Systems for Multi-crystalline Silicon Solar CellsSilicon Nitride Coating Systems for Multi-crystalline Silicon Solar Cells | |
 | MProbe Vis 微点薄膜厚度光学测量仪大部分半透明的或具有轻微吸收性的薄膜能够被快速、可靠的测量：氧化物、氮化物、感光耐蚀膜、聚合物、半导体(Si, aSi,polySi)、硬涂层(SiC, DLC), 聚合物涂料 (Paralene,PMMA,聚酰胺)，薄金属薄膜等。 | |
 | 反射率测试仪反射率测试仪 | |
 | 膜厚测量仪薄膜到厚膜的测量范围、UV～NIR光谱分析。 高性能的低价光学薄膜测量仪。 藉由绝对反射率光谱分析膜厚。 完整继承FE-3000高端机种90%的强大功能。 无复杂设定，操作简单，短时间内即可上手。 非线性最小平方法解析光学常数(n:折射率、k:消光系数) | |
 | FMT-350The FMT interface displays both I-V and Suns-Voc data. This permits direct comparisons of module data to cell data and quick identification of series resistance, shunting, and cell mismatch. | |
 | 闪光探测器闪光灯的峰值强度远高于连续光源。PMA2135探测器捕获峰值强度并每五秒钟在PMA2100上显示。除了峰值强度，PMA2135积分并保存一个单脉冲剂量。辐射峰值强度以mW/cm2 或 W/cm2显示。全刻度由客户在订货时指定。剂量全刻度为mJ/cm2 或 J/cm2。光电探测器有0.474平方英寸的有效面积。聚四氟乙烯半球明视探测器具有极好的余弦响应，这就可以实现对点或长光源的精确测量。 | |
 | LBICLBIC 光谱分辨光束感应电流映射 LBIC映射不同波长 | |
| | 太阳能晶片检测太阳能晶片检测： | |
 | 椭圆偏光膜厚测量仪（自动）椭圆偏振术测量紫外光到可见光波长椭圆参数。 0.1nm以上奈米级光学薄膜厚度测量。 400波长以上多通道分光的椭偏仪，高速测量椭圆偏光光谱。 可自由变换反射测量角度，得到更详细的薄膜解析数据。 非线性最小平方法解析多层膜、光学常数。 | |
 | 膜厚光谱分析仪系统平面显示器模组测量： 平面显示器（FPD）模组、液晶显示器（LCD）模组、电浆显示器（PDP）模组、CRT显示器、OLED面板 | |
 | LOANALOANA | |
| | Solar Simulator Uniformity MapperSolar Simulator Uniformity Mapper | |
 | PMA 2122 UVC杀菌探测器PMA2122杀菌探测器提供了对于有效杀菌辐射的快速精确测量。253.7nm的紫外辐射已经在杀菌应用方面沿用了几十年。 空中以及水中的微生物（细菌）可以通过紫外线照射或者紫外线和臭氧结合来杀死。 净化系统中使用的UV线灯必须保证能产生杀死细菌剂量的紫外辐射。必须对UV灯进行监测，以保证发挥其最大限度的利用价值。 通过探测器测量，不但可以确保昂贵的UV灯是否充分使用，确定达到了更换程度，还能检测新UV灯是否符合杀菌标准。 | |
